Noise Level Estimation in Phase Images Obtained Using a Shearing Interference Microscope


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A method is described for estimating spatial and temporal noise levels in phase patterns obtained using a shearing interference microscope. Experimental results are presented for a microscope operating with a coherent laser and low-coherence LED light.

Авторлар туралы

M. Latushko

All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: latushko@vniiofi.ru
Ресей, Moscow

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Springer Science+Business Media New York, 2016