Noise Level Estimation in Phase Images Obtained Using a Shearing Interference Microscope


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Resumo

A method is described for estimating spatial and temporal noise levels in phase patterns obtained using a shearing interference microscope. Experimental results are presented for a microscope operating with a coherent laser and low-coherence LED light.

Sobre autores

M. Latushko

All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)

Autor responsável pela correspondência
Email: latushko@vniiofi.ru
Rússia, Moscow


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