Свойства перколяционных каналов в планарных мемристивных структурах на основе эпитаксиальных пленок оксидных перовскитных соединений YBa2Cu3O7 – δ и La1 – хSrхMnO3 – δ

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Обоснован выбор базовых материалов и изучены их функциональные свойства для разработки структуры и выяснения механизма резистивных переключений. Синтезированы мезоскопические гетероструктуры на основе эпитаксиальных ориентированных ❬001❭ пленок высокотемпературного сверхпроводника YBa2Cu3O7 – δ и легированного манганита La1 – xSrxMnO3 – δ, изучены свойства каналов перколяции структур на основе этих соединений. Изучены эффекты “самоадаптирующегося электроформирования” в микроконтактных гетероструктурах на основе эпитаксиальных пленок манганита. Численные расчеты по модели критического электрического поля показали, что “самоэлектроформирование” происходит в сильных электрических полях и в зоне контакта образуется щелевая структура. Данная структура обеспечивает воспроизводимость резистивных переключений.

Об авторах

А. Н. Россоленко

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт физики твердого тела Российской академии наук”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

Н. А. Тулина

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт физики твердого тела Российской академии наук”

Автор, ответственный за переписку.
Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

И. М. Шмытько

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт физики твердого тела Российской академии наук”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

А. А. Иванов

Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего профессионального образования “Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Москва

А. В. Зотов

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов Российской академии наук”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

И. Ю. Борисенко

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов Российской академии наук”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

В. В. Сироткин

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов Российской академии наук”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

В. А. Тулин

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки
“Институт проблем технологии микроэлектроники и особо чистых материалов Российской академии наук”

Email: tulina@issp.ac.ru
Россия, Черноголовка

Список литературы

  1. Li Y., Wang Z., Midya R. et al. // J. Phys. D. 2018. V. 51. Art. No. 503002.
  2. Wang C., Wu H., Gao B., Zhang et al. // Microelectron. Engin. 2018. V. 187–188. P. 121.
  3. Perez-Tomas A. // Adv. Mater. Interfaces. 2019. V. 6. Art. No. 1970096.
  4. Tulina N.A., Ivanov A.A. // J. Supercond. Nov. Magn. 2020. V. 33. P. 2279.
  5. Тулина Н.А., Сироткин В.В., Борисенко И.Ю., Иванов А.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2013. Т. 77. № 3. С. 297; Tulina N.A., Sirotkin V.V., Borisenko I.Yu., Ivanov A.A. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2013. V. 77. No. 3. P. 265.
  6. Tulina N.A., Rossolenko A.N., Shmytko I.M. et al. // J. Supercond. Sci. Technol. 2019. V. 32. P. 5003.
  7. Тулина Н.А., Россоленко А.Н., Шмытько И.М. и др. // Наноиндустрия. 2019. Т. 89. С. 237.
  8. Tulina N.A., Borisenko I.Yu., Shmytko I.M. et al. // J. Supercond. Nov. Magn. 2020. V. 33. P. 3695.
  9. Pickett W. E., Singh D.J., Krakauer H., Cohen R.E. // Science. 1992. V. 255. No. 5040. P. 46.
  10. Dagotto E., Hotta N., Moreo A. // Phys. Reports. 2001. V. 344. P. 1.
  11. Байков Ю.М., Никулин Е.И., Мелех Б.Т., Егоров В.М. // ФТТ. 2004. Т. 46. № 11. С. 2018.
  12. Chaika A.N., Ionov A.M., Tulina N.A. et al. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2005. V. 148. P. 101.
  13. Yanson I.K. // Low Temp. Phys. 1983. V. 6. P. 676.
  14. Sano Y. // J. Appl. Phys. 1985. V. 58. P. 2651.
  15. Jorgensen J. // Phys. Rev. B. 1990. V. 41. P. 1863.
  16. Dagotto E. // Rev. Mod. Phys. 1994. V. 66. P. 763.
  17. Hudgins J. // J. Electron. Mater. 2003. V. 33. P. 471.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2.

Скачать (800KB)
3.

Скачать (39KB)
4.

Скачать (388KB)
5.

Скачать (956KB)

© А.Н. Россоленко, Н.А. Тулина, И.М. Шмытько, А.А. Иванов, А.В. Зотов, И.Ю. Борисенко, В.В. Сироткин, В.А. Тулин, 2023

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах