Study of the sensitivity of moisture-sensitive structures with UV reduction on the basis of ZnO produced by the sol-gel method

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A structure based on a thin-film nanocrystalline zinc oxide obtained by the sol-gel method on a flexible Kapton substrate has been developed. It has been established that its electrical resistance increases significantly under the influence of moisture contained in the air. When irradiated with ultraviolet radiation, the resistance of the structure decreases by almost two orders of magnitude. After the UV exposure finish, a long-term process of restoration of electrical conductivity is observed, which is described by the fractional-exponential Kohlrausch function.

Авторлар туралы

D. Permyakov

Voronezh State Technical University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: Dima.P.S@yandex.ru
Russia, 394006, Voronezh

M. Belykh

Voronezh State Technical University

Email: Dima.P.S@yandex.ru
Russia, 394006, Voronezh

A. Strogonov

Voronezh State Technical University

Email: Dima.P.S@yandex.ru
Russia, 394006, Voronezh

Әдебиет тізімі

  1. Гаськов А.М., Румянцева М.Н. // Неорг. матер. 2000. Т. 36. № 3. С. 369; Gas’kov A.M., Rumyantseva M.N. // Inorg. Mater. 2000. V. 36. No. 3. P. 293.
  2. Christopher B. // Sci. Reports. 2017. V. 7. No. 6053. P. 1.
  3. Singh H., Kumar A., Bansod B.S. et al. // RSC Advances. 2018. V. 8. P. 3839.
  4. Droepenu E.K., Wee B.S., Chin S.F. et al // Biointerface Res. Appl. Chem. 2022. V. 12. No. 3. P. 4261.
  5. Tsoutsouva M., Panagopoulos C.N., Papadimitriou D. // Mater. Sci. Engin. B. 2011. V. 176. No. 6. P. 480.
  6. Pranav D., Kartik P., Kamlesh C. // Proc. Technol. 2016. V. 23. P. 328.
  7. Skowronski L., Ciesielski A., Olszewska A. // Materials (Basel). 2020. V. 13. No. 16. P. 3510.
  8. Sonima M., Mini V., Arun A. // Nano Express. 2020. V. 1. No. 3. P. 1.
  9. Zoltan K., Csanad M., Tamas G. // Catalysis Today. 2022. V. 397. P. 16.
  10. Poornajar M., Marashi P., Fatmehsari D.H. // Ceram. Int. 2016. V. 42. No. 1. P. 173.
  11. Heitmann U., Westraadt J., O’Connell J. et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2022. V. 14. No. 36. P. 41 149.
  12. Aljameel A.I., Ali M.K.M. // J. Non-Oxide Glass. 2021. V. 13. No. 2. P. 21.
  13. Kidalov V., Dyadenchuk A., Bacherikov Y. et al // Turk. J. Phys. 2020. V. 44. No. 1. P. 55.
  14. Wisz G., Virt I., Sagan P. et al // Nanoscale Res. Lett. 2017. V. 12. No. 253. P. 1.
  15. Белых М.А. // Межвуз. сб. науч. тр. “Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника”. Воронеж: Изд-во ВГТУ, 2020. С. 37.
  16. Пермяков Д.С., Белых М.А., Строгонов А.В. // Межвуз. сб. науч. тр. “Микроэлектроника и наноэлектроника: актуальные проблемы”. Воронеж: Изд-во ВГТУ, 2021. С. 4.
  17. Jian Lin // Nature Commun. 2014. V. 5. No. 5714. P. 2.
  18. Коренблит И.Я., Шендер Е.Ф. // УФН. 1989. Т. 157. № 2. С. 267; Korenblit I.Ya., Shender E.F. // Sov. Phys. Usp. 1989. V. 32. No. 2. P. 139.
  19. Hochli U.T., Knorr K., Loidl A. // Adv. Phys. 1990. V. 39. P. 405.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
2.

Жүктеу (607KB)
3.

Жүктеу (140KB)
4.

Жүктеу (142KB)
5.

Жүктеу (107KB)

© Д.С. Пермяков, М.А. Белых, А.В. Строгонов, 2023

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>