Мақаланы E-mail арқылы жіберу Tests Concerning Certain Types of Faults at the Scheme Inputs
- Авторлар: Kurbatskaia V.K.1
-
Мекемелер:
- Faculty of Computational Mathematics and Cybernetics
- Шығарылым: Том 43, № 3 (2019)
- Беттер: 112-117
- Бөлім: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/0278-6419/article/view/176310
- DOI: https://doi.org/10.3103/S0278641919020055
- ID: 176310
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
Estimates are obtained for the Shannon function of the length of a diagnostic test with respect to cyclic shifts of scheme inputs, and for the Shannon function of fault detection and length of a diagnostic test with respect to a single stuck-at fault and a cyclic shift of scheme inputs.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
V. Kurbatskaia
Faculty of Computational Mathematics and Cybernetics
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: kurbatskaia.vk@gmail.com
Ресей, Moscow, 119991
Қосымша файлдар
