ПОТЕРИ МОЩНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ В СВЕТОДИОДАХ

Градобоев А. В.; Орлова К. Н.; Жамалдинов Ф. Ф.

doi:10.31857/S0032816222060131

ПОТЕРИ МОЩНОСТИ ИЗЛУЧЕНИЯ В СВЕТОДИОДАХ

Authors: Градобоев А.¹, Орлова К.², Жамалдинов Ф.¹
Affiliations:
1. Национальный исследовательский Томский политехнический университет
2. Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
Issue: No 1 (2023)
Pages: 80-86
Section: ОБЩАЯ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ТЕХНИКА
URL: https://journals.rcsi.science/0032-8162/article/view/138286
DOI: https://doi.org/10.31857/S0032816222060131
EDN: https://elibrary.ru/JPKHRC
ID: 138286

Cite item

Full Text

Open Access
Restricted Access

Access granted
Restricted Access

Subscription Access

Abstract
About the authors
References
Supplementary files
Statistics

Abstract

На основании анализа известных литературных данных и структуры конструктивно оформленных светодиодов предложена классификация потерь мощности излучения активного слоя светодиода. При этом выделены активные и пассивные потери мощности светодиода. Показано, что пассивные потери мощности излучения не приводят к изменению квантового выхода активного (рабочего) слоя светодиода и/или прямой ветви вольт-амперной характеристики, но при этом проявляются в виде аномалий на светотехнических характеристиках светодиодов. Предложена методика определения пассивных потерь мощности излучения активного слоя светодиодов. На примере светодиодов инфракрасного диапазона длин волн, изготовленных на основе гетероструктур AlGaAs, показана эффективность контроля пассивных потерь мощности излучения светодиодов при исследовании их эксплуатационных свойств.

References

Bergh A.A., Dean P.J. Light-emitting diodes. Oxford: Clarendon Press, 1976.
Коган Л.М. Полупроводниковые светоизлучающие диоды. М.: Энергоатомиздат, 1983.
Шуберт Ф. Светодиоды. М.: Физматлит, 2008.
Eliashevich I., Dcbray J., Tran C.A., Venugopalan H., Karlicck Jr. F.R. // Proc. ot SPIE Light-Emitting Diodes: Research. Manufacturing, and Applications IV. 2000. V. 3938. https://doi.org/10.1117/12.382815
Stockman S.A., Walter Yao H., Schubert E.F. // Proc. of SPIE Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications VIII. 2004. V. 5366. https://doi.org/10.1117/12.528938
Холгер Проcc (Holger Pross) // Современная светотехника. 2010. № 5. С. 47.
Gradoboev A.V., Simonova A.V., Orlova K.N. // Physica Status Solidi (C). 2016. V. 13. № 10–12. P. 895. https://doi.org/10.1002/pssc.201600035
Shailesh K.R., Ciji P.K., Savitha G.K. // International Journal of Semiconductor Science & Technology. 2012. V. 3. № 1. P. 43. https://doi.org/10.1109/ICETEEEM.2012.6494509
Orlova K., Gradoboev A.V., Simonova A. // International Journal of Emerging Technology and Advanced Engineering. 2022. V. 12. P. 100. https://doi.org/10.46338/ijetae0222_12
Gradoboev A.V., Orlova K.N. // IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 2015. V. 81. № 1. P. 012008. https://doi.org/10.1088/1757-899X/81/1/012008
Aliyu Y.H., Morgan D.V., Thomas H., Bland S.W. // Electronics Letters. 1995. V. 31. Issue19. P. 1691. https://doi.org/10.1049/el:19951132
Chin A.K., Zydzik G., Singh S., van Uitert L.G., Minneci G. // Journal of Vacuum Science & Technology B: Microelectronics Processing and Phenomena. 1983. V. 1. Issue 1. P. 72.
Gessmann T., Schubert E.R., Graff J.W., Streubel K., Kamutsch C. // IEEE Electron Device Letters. 2003. V. 24. Issue 11. P. 683. https://doi.org/10.1109/LED.2003.817386
Lee Y.C., Lee C.E., Kuo H.C., Lu T.C., Wang S.C. // IEEE Photonics Technology Letters. 2008. V. 20. Issue 5. P. 369. https://doi.org/10.1109/LPT.2008.2010903
Suzuki T., Matsumoto Y. // Applied Physics Letters. 1975. V. 26. № 8. P. 431. https://doi.org/0.1063/1.88226
Ishida K., Kamejima T., Matsui J. // Applied Physics Letters. 1977. V. 31. № 6. P. 397.
Chin A.K., Zipfel C.L., Chin B.H., DiGiuseppe M.A. // Applied Physics Letters. 1983. V. 42. № 12. P. 1031. https://doi.org/10.1063/1.93831
Chand N., Chu S.N.G. // Applied Physics Letters. 1991. V. 58. № 1. P. 74.
Lester S.D., Ponce R.A., Craford M.G., Steigerwald D.A. // Applied Physics Letters. 1995. V. 66. № 10. P. 1249. https://doi.org/10.1063/1.113252
Hino T., Tomiya S., Miyajima T., Yanashima K., Hashimoto S., Ikeda M. // Applied Physics Letters. 2000. V. 76. № 23. P. 3421. https://doi.org/10.1063/1.126666
Градобоев А.В., Орлова К.Н., Симонова А.В., Сед-нев В.В. // ПТЭ. 2021. № 5. С. 90. https://doi.org/10.31857/S0032816221040157