Morphology and spatial distribution of ordered domains in GaInP/GaAs(001) according to transmission electron microscopy

封面

如何引用文章

全文:

开放存取 开放存取
受限制的访问 ##reader.subscriptionAccessGranted##
受限制的访问 订阅存取

详细

The structure of epitaxial films of the GaInP solid solution, in which ordering occurs, was studied using transmission electron microscopy. The films were grown by metalorganic vapor phase epitaxy on GaAs (001) substrates near the half-composition point. During the study, dark-field images obtained using superstructure reflections for cross-sectional and plan-view specimens of films were analyzed. The morphology and relative spatial arrangement of ordered domains have been determined. The phenomenon of spontaneous self-organization of regions with CuPt–B+ and CuPt–B– ordering near the surface was discovered, while in the bulk of the film the domains are uniformly located and mutually overlap each other. The effect of spatial separation of domains is associated with the lattice relaxation, leading to a change in the surface topology.

全文:

受限制的访问

作者简介

А. Myasoedov

Ioffe Institute RAS

编辑信件的主要联系方式.
Email: amyasoedov88@gmail.com
俄罗斯联邦, St. Petersburg

N. Bert

Ioffe Institute RAS

Email: amyasoedov88@gmail.com
俄罗斯联邦, St. Petersburg

N. Kalyuzhnyy

Ioffe Institute RAS

Email: amyasoedov88@gmail.com
俄罗斯联邦, St. Petersburg

A. Mintairov

Ioffe Institute RAS

Email: amyasoedov88@gmail.com
俄罗斯联邦, St. Petersburg

参考

  1. Adachi S. Physical Properties of III–V Semiconductor Compounds. NY.: John Wiley & Sons, 1992. 13 p. https://doi.org/10.1002/352760281X
  2. Suzuki T. Basic Aspects of Atomic Ordering in III–V Semiconductor Alloys. NY.: Springer, 2002. 2 p. https://doi.org/10.1007/978-1-4615-0631-7_1
  3. Zunger A., Wood D.M. // J. Cryst. Growth. 1989. V. 98. № 1–2. P. 1. https://doi.org/10.1016/0022-0248(89)90180-2
  4. Srivastava G.P., Martins J.L., Zunger A. // Phys. Rev. B1985. V. 31. № 4. P. 2561. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.31.2561
  5. Gomyo A., Suzuki T., Kobayashi K. et al. // Appl. Phys. Lett. 1987. V. 50. № 11. P. 673. https://doi.org/10.1063/1.98062
  6. Gomyo A., Suzuki T., Iijima S. // Phys. Rev. Lett. 1988. V. 60. № 25. P. 2645. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.60.2645
  7. Wei S.H., Laks D.B., Zunger A. // Appl. Phys. Lett. 1993. V. 62. № 16. P. 1937. https://doi.org/10.1063/1.109496
  8. Kurtz S.R. // J. Appl. Phys. 1993. V. 74. № 6. P. 4130. https://doi.org/10.1063/1.354437
  9. Froyen S., Zunger A., Mascarenhas A. // Appl. Phys. Lett. 1996. V. 68. № 20. P. 2852. https://doi.org/10.1063/1.116346
  10. Wei S.-H., Zhang S., Zunger A. // Jpn. J. Appl. Phys. 2000. V. 39. № S1. P. 237. https://doi.org/10.7567/jjaps.39s1.237
  11. Ponce F.A. // J. Phys. Conf. Ser. 2019. V. 1173. № 1. P. 012001. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1173/1/012001
  12. Su P.Y., Liu H., Kawabata R.M.S. et al. // J. Appl. Phys. 2019. V. 125. № 5. P. 1. https://doi.org/10.1063/1.5063941
  13. Martín G., Coll C., López-Conesa L. et al. // ACS Appl. Electron. Mater. 2022. V. 4. № 7. P. 3478. https://doi.org/10.1021/acsaelm.2c00415
  14. Mintairov A.M., Kapaldo J., Merz J.L. et al. // Phys. Rev. B. 2017. V. 95. № 11. P. 1. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.95.115442
  15. Mintairov A.M., Lebedev D.V., Bert N. et al. // Appl. Phys. Lett. 2019. V. 115. № 20. https://doi.org/10.1063/1.5126527
  16. Ahrenkiel S.P., Jones K.M., Matson R.J. et al. // MRS Proc. 1999. V. 583. P. 243. https://doi.org/10.1557/PROC-583-243
  17. Zhang S.B., Froyen S., Zunger A. // Appl. Phys. Lett. 1995. V. 67. P. 3141. https://doi.org/10.1063/1.114860
  18. Baxter C.S., Stobbs W.M., Wilkie J.H. // J. Cryst. Growth 1991. V. 112. № 2–3. P. 373. https://doi.org/10.1016/0022-0248(91)90313-T
  19. Bellon P., Chevalier J.P., Augarde E. et al. // J. Appl. Phys. 1989. V. 66. № 6. P. 2388. https://doi.org/10.1063/1.344245
  20. Nasi L., Salviati G., Mazzer M., Zanotti‐Fregonara C. // Appl. Phys. Lett. 1995. V. 68. P. 3263. https://doi.org/10.1063/1.116568
  21. Matthews J.W., Blakeslee A.E. // J. Cryst. Growth 1974. V. 27. P. 118. https://doi.org/10.1016/S0022-0248(74)80055-2
  22. Gutekunst G., Mayer J., Rühle M. // Philos. Mag. A. 1997. V. 75. № 5. P. 1329. https://doi.org/10.1080/01418619708209859
  23. Romanov A.E. // Int. J. Mater. Res. 2005. V. 96. № 5. P. 455. https://doi.org/doi.org/10.3139/ijmr-2005-0083
  24. Yastrubchak O., Wosinski T., Figielski T., Lusakowska E. // Physica E. 2003. V. 17. № 1–4. P. 561. https://doi.org/10.1016/S1386-9477(02)00871-8
  25. Zhang C.L., Xu B., Wang Z.G. et al. // Physica E. 2005. V. 25. № 4. P. 592. https://doi.org/10.1016/j.physe.2004.09.008

补充文件

附件文件
动作
1. JATS XML
下载
2. Fig. 1. Schematic representation of the ordering: a – CuPt–B–, b – CuPt–B+. Images were obtained using the VESTA software package.

下载 (115KB)
索引源数据
3. Fig. 2. Dark-field TEM images of the same region for reflections: a – b – Arrows indicate regions characterized by only one ordering variant. Electron microdiffraction pattern corresponding to this region (c).

下载 (236KB)
索引源数据
4. Fig. 3. TEM image of the projection of the interface between the GaInP film and the substrate. To obtain the image, the sample was strongly tilted. MD – misfit dislocation lines oriented along the [110] direction.

下载 (98KB)
索引源数据
5. Fig. 4. Dark-field TEM images for superstructure reflections (a), (b), (c), (d), (d) for the ordering of CuPt–B+ (a, c, d) and CuPt–B– (b, d). The corresponding electron diffraction pattern for the zone axis [116] (e).

下载 (451KB)
索引源数据

版权所有 © Russian Academy of Sciences, 2024

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».