Silicon Film Deposition Using a Gas-Jet Plasma-Chemical Method: Experiment and Gas-Dynamic Simulation


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

This paper presents the results of an experimental study, numerical calculation, and analysis within the framework of a gas-dynamic model of silicon film deposition by a gas-jet plasmachemical method. A numerical model of gas mixtures flowing out of an annular nozzle unit and into a reactor is developed, and it allows one to determine a film thickness distribution over the surface of substrates placed in the reactor and satisfactorily describes the experimental data obtained.

Авторлар туралы

R. Sharafutdinov

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: molkin@itp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

P. Skovorodko

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Email: molkin@itp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

V. Shchukin

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Email: molkin@itp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

V. Konstantinov

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Email: molkin@itp.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018