Silicon Film Deposition Using a Gas-Jet Plasma-Chemical Method: Experiment and Gas-Dynamic Simulation


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

This paper presents the results of an experimental study, numerical calculation, and analysis within the framework of a gas-dynamic model of silicon film deposition by a gas-jet plasmachemical method. A numerical model of gas mixtures flowing out of an annular nozzle unit and into a reactor is developed, and it allows one to determine a film thickness distribution over the surface of substrates placed in the reactor and satisfactorily describes the experimental data obtained.

Об авторах

R. Sharafutdinov

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Автор, ответственный за переписку.
Email: molkin@itp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

P. Skovorodko

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Email: molkin@itp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

V. Shchukin

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Email: molkin@itp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

V. Konstantinov

Kutateladze Institute of Thermophysics, Siberian Branch

Email: molkin@itp.nsc.ru
Россия, Novosibirsk, 630090

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).