Modeling of Structural Defects in Silicon Carbide


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

This paper reports DFT calculations of the electron density in pure and imperfect silicon carbide clusters. The local levels produced in the band gap by doping are shown to be determined predominantly by intrinsic states of the silicon and carbon.

Авторлар туралы

E. Sokolenko

North-Caucasus Federal University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: sokolenko-ev-svis@rambler.ru
Ресей, ul. Pushkina 1, Stavropol, 355009

G. Slyusarev

North-Caucasus Federal University

Email: sokolenko-ev-svis@rambler.ru
Ресей, ul. Pushkina 1, Stavropol, 355009

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Inc., 2019