Modeling of Structural Defects in Silicon Carbide


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Resumo

This paper reports DFT calculations of the electron density in pure and imperfect silicon carbide clusters. The local levels produced in the band gap by doping are shown to be determined predominantly by intrinsic states of the silicon and carbon.

Sobre autores

E. Sokolenko

North-Caucasus Federal University

Autor responsável pela correspondência
Email: sokolenko-ev-svis@rambler.ru
Rússia, ul. Pushkina 1, Stavropol, 355009

G. Slyusarev

North-Caucasus Federal University

Email: sokolenko-ev-svis@rambler.ru
Rússia, ul. Pushkina 1, Stavropol, 355009

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