Computer Retrofitting of Measurement and Control as an Element of Information Technology
- Authors: Vyacheslavova OF1
-
Affiliations:
- MSTU MAMI
- Issue: Vol 2, No 1 (2008)
- Pages: 166-169
- Section: Articles
- URL: https://journals.rcsi.science/2074-0530/article/view/69679
- DOI: https://doi.org/10.17816/2074-0530-69679
- ID: 69679
Cite item
Full Text
Abstract
About the authors
O F Vyacheslavova
MSTU MAMIд.т.н., проф8-495-223-05-23 доб. 12-27; МГТУ «МАМИ»; MSTU MAMI
References
- Петров В.И. Сканирующая зондовая микроскопия / Петров В.И., Лукьянов А.Е., - М.: Физ.дан. МГУ, ч.1, 2001 108 с.
- Рыков С.А. Сканирующая зондовая микроскопия полупроводниковых материалов и наноструктур. Учебное пособие для студентов ВУЗов.- СПб.: Наука, 2001. 52 с.
- Вячеславова О.Ф., Иванов С.А. Объективные предпосылки создания новых подходов в оценке шероховатости поверхности, обработанной электрофизическими методами обработки: материалы 8-й Всероссийской научно-техн. конф. «Состояние и проблемы измерений». М.: 2002, ч.2. с. 65-66.
- Вячеславова О.Ф., Назаров Ю.Ф., Иванов С.А. Фрактальная модель формирования поверхности физическими методами//Обозрение прикладной и промышленной математики. 2002, т.9, вып.3, с.698 -599.
- Информационные технологии в разработке сложных систем: Труды ГОСНИИАС/ГОСНИИ авиац. Систем: -М:, вып. 1(3), 1994,.92 с.
- Информационные технологии, системы и приборы: Сб. научных трудов/Ульяновский Госуд. Техн. университет. Ульяновск, 1998. 91 с.
- Потапов А.А., Герман В.А. О методах измерения фрактальной размерности и фрактальных сигнатур многомерных стохастических сигналов /В ж. «Радиотехника и электроника», 2004, т.49, № 12, с.1468 - 1491
Supplementary files
