Мақаланы E-mail арқылы жіберу A device for measuring the scattering indicatrix of the nanomaterial synthesis process
- Авторлар: Matyushkin L.B.1, Aleksandrova O.A.1, Moshnikov V.A.1
-
Мекемелер:
- St. Petersburg State Electrotechnical University LETI
- Шығарылым: Том 43, № 3 (2017)
- Беттер: 263-266
- Бөлім: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/1087-6596/article/view/216002
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1087659617030063
- ID: 216002
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
An installation diagram for the study of nanomaterials using scattering indicatrices has been presented. It has been shown that the suggested procedure allows the online investigation and control of the synthesis of nanomaterials, as exemplified by the preparation of SiO2 by the Stöber method and chemical bath deposition of the lead sulfide PbS layer.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
L. Matyushkin
St. Petersburg State Electrotechnical University LETI
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: leva.matyushkin@gmail.com
Ресей, St. Petersburg, 197022
O. Aleksandrova
St. Petersburg State Electrotechnical University LETI
Email: leva.matyushkin@gmail.com
Ресей, St. Petersburg, 197022
V. Moshnikov
St. Petersburg State Electrotechnical University LETI
Email: leva.matyushkin@gmail.com
Ресей, St. Petersburg, 197022
Қосымша файлдар
