Current Transport Mechanism in p-InSb–n-CdTe Heterojunction


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Based on the analysis of the forward current-voltage characteristics of the p-InSb–n-CdTe heterojunction fabricated by a method of pulsed laser deposition, the existence of two charge injection mechanisms was experimentally confirmed. At relatively small external bias voltages (0.03 V < U < 0.15 V), the current is in a satisfactory agreement with the expression I ~ exp(qUkT) with the ideality factor η = 1. Above 0.18 V, the current-voltage characteristic obeys the law I ~ U3/2 followed by an attainment to the linear section (the cut-off voltage of current is 0.47 V). A theoretical model of current transport is given taking into account the peculiarities of the heterojunction band discontinuity, leading to the origination of inversion layer near the interface.

Об авторах

S. Petrosyan

Russian–Armenian University; Institute of Radiophysics and Electronics

Email: avjyan@gmail.com
Армения, Yerevan; Ashtarak

L. Matevosyan

Russian–Armenian University; Institute of Radiophysics and Electronics

Email: avjyan@gmail.com
Армения, Yerevan; Ashtarak

K. Avjyan

Russian–Armenian University; Institute of Radiophysics and Electronics

Автор, ответственный за переписку.
Email: avjyan@gmail.com
Армения, Yerevan; Ashtarak

S. Nersesyan

Institute of Radiophysics and Electronics

Email: avjyan@gmail.com
Армения, Ashtarak


© Allerton Press, Inc., 2019

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах