Thermal lithography of thin films of vanadium dioxide
- Авторлар: Andreev V.N.1, Klimov V.A.1, Kompan M.E.1
- 
							Мекемелер: 
							- Ioffe Physical Technical Institute
 
- Шығарылым: Том 42, № 1 (2016)
- Беттер: 19-22
- Бөлім: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/1063-7850/article/view/196701
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785016010028
- ID: 196701
Дәйексөз келтіру
Аннотация
A technique is proposed for making microareas with sharply different optical and electrical properties in thin films of vanadium dioxide. The technique is based on vacuum annealing of thin films, which results in a yield of oxygen from vanadium dioxide with the formation of an oxygen vacancy in it.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
V. Andreev
Ioffe Physical Technical Institute
														Email: v.klimov@mail.ioffe.ru
				                					                																			                												                	Ресей, 							St. Petersburg, 194021						
V. Klimov
Ioffe Physical Technical Institute
							Хат алмасуға жауапты Автор.
							Email: v.klimov@mail.ioffe.ru
				                					                																			                												                	Ресей, 							St. Petersburg, 194021						
M. Kompan
Ioffe Physical Technical Institute
														Email: v.klimov@mail.ioffe.ru
				                					                																			                												                	Ресей, 							St. Petersburg, 194021						
Қосымша файлдар
 
				
			 
						 
					 
						 
						 
						 
									 
  
  
  
  
  Мақаланы E-mail арқылы жіберу
			Мақаланы E-mail арқылы жіберу  Ашық рұқсат
		                                Ашық рұқсат Рұқсат берілді
						Рұқсат берілді Тек жазылушылар үшін
		                                		                                        Тек жазылушылар үшін
		                                					