Conceptual Design for a Microfocus Beamline on the SKIF Synchrotron


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

A design is proposed for a fourth-generation synchrotron beamline for investigating the structure and composition of a broad range of samples with high (submicron) spatial resolution.

Авторлар туралы

S. Rashchenko

Sobolev Institute of Geology and Mineralogy, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences; Novosibirsk State University; Budker Institute of Nuclear Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: rashchenko@igm.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090; Novosibirsk, 630090

A. Darin

Sobolev Institute of Geology and Mineralogy, Siberian Branch, Russian Academy of Sciences

Email: rashchenko@igm.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

Ya. Rakshun

Budker Institute of Nuclear Physics

Email: rashchenko@igm.nsc.ru
Ресей, Novosibirsk, 630090

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2019