Effect of temperature and grain size on the stability of the microstructure of Ag films during annealing


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Grain growth in thin silver films is investigated experimentally. It is shown that the duration of the incubation period preceding linear or parabolic grain growth depends on the annealing temperature and average grain size. It is found that the lower the isothermal annealing temperature and the smaller the grain size, the longer the period of incubation, i.e., the longer the period of microstructure stability.

Авторлар туралы

V. Sursaeva

Institute of Solid State Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: sursaeva@issp.ac.ru
Ресей, Chernogolovka, Moscow oblast, 142432

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2016