Investigating Contact Phenomena at a PZT–Pt Interface by Means of Induced Current


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Results from studying contact phenomena at a PZT–Pt interface are presented. The space charge region (SCR) near the PZT–Pt interface can be detected directly by means of induced current. The dependence of the change in the SCR’s width on the external bias voltage is determined.

Авторлар туралы

A. Antonovich

Moscow Technological University (MIREA)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: alexant@phys.msu.ru
Ресей, Moscow, 119454

A. Petrushin

Moscow Technological University (MIREA)

Email: alexant@phys.msu.ru
Ресей, Moscow, 119454

D. Lapin

Moscow Technological University (MIREA)

Email: alexant@phys.msu.ru
Ресей, Moscow, 119454

Yu. Podgornyi

Moscow Technological University (MIREA)

Email: alexant@phys.msu.ru
Ресей, Moscow, 119454

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2018