Investigating Contact Phenomena at a PZT–Pt Interface by Means of Induced Current


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Results from studying contact phenomena at a PZT–Pt interface are presented. The space charge region (SCR) near the PZT–Pt interface can be detected directly by means of induced current. The dependence of the change in the SCR’s width on the external bias voltage is determined.

Об авторах

A. Antonovich

Moscow Technological University (MIREA)

Автор, ответственный за переписку.
Email: alexant@phys.msu.ru
Россия, Moscow, 119454

A. Petrushin

Moscow Technological University (MIREA)

Email: alexant@phys.msu.ru
Россия, Moscow, 119454

D. Lapin

Moscow Technological University (MIREA)

Email: alexant@phys.msu.ru
Россия, Moscow, 119454

Yu. Podgornyi

Moscow Technological University (MIREA)

Email: alexant@phys.msu.ru
Россия, Moscow, 119454

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2018

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).