Analytical features of the SIMS method in studying the composition of quartz concentrates

Авторлар: Volkov S.S.¹^,2, Kitaeva T.I.²
Мекемелер:
1. Ryazan Higher Airborne School (Military Institute)
2. Ryazan State Radio Engineering University
Шығарылым: Том 80, № 2 (2016)
Беттер: 129-132
Бөлім: Proceedings of the 22nd International Conference “Ion-Surface Interaction (ISI-2015)”
URL: https://journals.rcsi.science/1062-8738/article/view/183805
DOI: https://doi.org/10.3103/S1062873816020295
ID: 183805

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат
Рұқсат жабық

Рұқсат берілді
Рұқсат жабық

Тек жазылушылар үшін

Ionic yields from different impurities of pure quartz concentrates are investigated.

Ionic Yield, Layer Analysis, Quartz Concentrate, Dark Particle, Concentration Depth Profile

Ryazan Higher Airborne School (Military Institute); Ryazan State Radio Engineering University

Email: kitaeva_46@mail.ru
Ресей, Ryazan, 390000; Ryazan, 390035

Ryazan State Radio Engineering University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: kitaeva_46@mail.ru
Ресей, Ryazan, 390035

Әрекет

1. JATS XML