Phase transitions in a two-dimensional system of dipolar excitons in a double-well SiGe/Si heterostructure


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The transition from a dipolar electron–hole liquid (EHL) to a spatially direct one in two-dimensional layers of a type II (buffer Si1–yGey)/tSi/sSi1–xGex/tSi/(cap Si1–yGey) heterostructure is studied via photoluminescence spectroscopy at helium temperatures and high excitation levels. This transition occurs when the sSi1–xGex barrier layer for electrons (a quantum well (QW) for holes), that separates electron QWs (tSi layers) gets thinner. The basic parameters of both types of EHLs and the lifetime of dipolar excitons are determined.

Авторлар туралы

T. Burbaev

Lebedev Physical Institute

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: burbaev@sci.lebedev.ru
Ресей, Moscow, 119991

M. Akmaev

Lebedev Physical Institute

Email: burbaev@sci.lebedev.ru
Ресей, Moscow, 119991

N. Sibeldin

Lebedev Physical Institute

Email: burbaev@sci.lebedev.ru
Ресей, Moscow, 119991

V. Ushakov

Lebedev Physical Institute

Email: burbaev@sci.lebedev.ru
Ресей, Moscow, 119991

A. Novikov

Institute for the Physics of Microstructures

Email: burbaev@sci.lebedev.ru
Ресей, Nizhny Novgorod, 603950

D. Lobanov

Institute for the Physics of Microstructures

Email: burbaev@sci.lebedev.ru
Ресей, Nizhny Novgorod, 603950

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Allerton Press, Inc., 2017