Отправить статью по E-mail Digital X-ray 3D-microtomograph for testing materials and components used in electronics
- Авторы: Syryamkin V.1
-
Учреждения:
- Tomsk State University
- Выпуск: Том 52, № 9 (2016)
- Страницы: 504-511
- Раздел: X-Ray Methods
- URL: https://journals.rcsi.science/1061-8309/article/view/181178
- DOI: https://doi.org/10.1134/S1061830916090060
- ID: 181178
Цитировать
Открытый доступ
Доступ предоставлен
Только для подписчиков
Аннотация
An intelligent X-ray microtomograph is described. The flow chart, software, and experimental results are presented.
Ключевые слова
Об авторах
V. Syryamkin
Tomsk State University
Автор, ответственный за переписку.
Email: egs@sibmail.com
Россия, Tomsk, 634050
