Мақаланы E-mail арқылы жіберу Investigation of Plane Defects in a Dielectric Wafer by Spectral-Domain Integral Equation Method
- Авторлар: Lopushenko V.V.1
-
Мекемелер:
- Faculty of Computational Mathematics and Cybernetics, Moscow State University
- Шығарылым: Том 28, № 1 (2017)
- Беттер: 60-73
- Бөлім: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/1046-283X/article/view/247562
- DOI: https://doi.org/10.1007/s10598-016-9345-y
- ID: 247562
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
The spectral-domain volume integral equation is used to develop a computer model for investigating the scattering properties of plane objects in the form of elliptical cylinders embedded in a dielectric wafer. The features of the model are demonstrated for particles of different materials and different shapes.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
V. Lopushenko
Faculty of Computational Mathematics and Cybernetics, Moscow State University
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: lopushnk@cs.msu.ru
Ресей, Moscow
Қосымша файлдар
