Enviar artigo por via de e-mail Single Fault Diagnostic Tests for Inversion Faults of Circuit Elements Over Some Bases
- Autores: Lyubich I.G.1, Romanov D.S.1
-
Afiliações:
- Lomonosov Moscow State University
- Edição: Volume 30, Nº 1 (2019)
- Páginas: 36-47
- Seção: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/1046-283X/article/view/247823
- DOI: https://doi.org/10.1007/s10598-019-09432-3
- ID: 247823
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Resumo
The article shows that, in a number of bases, every Boolean function can be realized by an irredundant combinational circuit that admits a single fault diagnostic test of length not greater than 4 with respect to inversion faults on the element outputs.
Palavras-chave
Sobre autores
I. Lyubich
Lomonosov Moscow State University
Autor responsável pela correspondência
Email: lubi4ig@gmail.com
Rússia, Moscow
D. Romanov
Lomonosov Moscow State University
Email: lubi4ig@gmail.com
Rússia, Moscow
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