Метод регистрации спектров вторичных электронов и экспериментальные исследования электронной структуры атомов стали Х17АГ18 и металлокерамики ZrC - PDF (Русский)
© Российская академия наук, 2024
© Российская академия наук, 2024
ISSN 1028-0960 (Print)
ISSN 3034-5731 (Online)
Пользователь
Инструменты статьи
Отправить статью по E-mail (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Отправить статью по E-mail (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия
компьютерное моделирование
магнетронное распыление
метод Монте-Карло
микроструктура
морфология поверхности
наночастицы
облучение
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
рентгеноструктурный анализ
рентгенофазовый анализ
синхротронное излучение
структура
тонкие пленки
фазовый состав
численное моделирование
электронная микроскопия
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
×
Пользователь
Инструменты статьи
Отправить статью по E-mail (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Отправить статью по E-mail (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Связаться с автором (Необходимо войти/зарегистрироваться)
Ключевые слова
атомно-силовая микроскопия
компьютерное моделирование
магнетронное распыление
метод Монте-Карло
микроструктура
морфология поверхности
наночастицы
облучение
оксид цинка
поверхность
растровая электронная микроскопия
рентгеновская дифракция
рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
рентгеноструктурный анализ
рентгенофазовый анализ
синхротронное излучение
структура
тонкие пленки
фазовый состав
численное моделирование
электронная микроскопия
Подписка
Войти в систему, чтобы проверить подписку
Уведомления
© Российская академия наук, 2024