Modern Scanning Electron Microscopy. 2. Test objects for Scanning Electron Microscopy - PDF (Орыс тілі)
© Ю.А. Новиков, 2023
© Ю.А. Новиков, 2023
ISSN 1028-0960 (Print)
ISSN 3034-5731 (Online)
Пайдаланушы
Мақала құралдары
Мақаланы E-mail арқылы жіберу (Кіру/тіркелу қажет)
Автормен байланысу (Кіру/тіркелу қажет)
Мақаланы E-mail арқылы жіберу (Кіру/тіркелу қажет)
Автормен байланысу (Кіру/тіркелу қажет)
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray phase analysis
X-ray photoelectron spectroscopy
atomic force microscopy
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
transmission electron microscopy
zinc oxide
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Ағымдағы шығарылым
№ 8 (2025)
×
Пайдаланушы
Мақала құралдары
Мақаланы E-mail арқылы жіберу (Кіру/тіркелу қажет)
Автормен байланысу (Кіру/тіркелу қажет)
Мақаланы E-mail арқылы жіберу (Кіру/тіркелу қажет)
Автормен байланысу (Кіру/тіркелу қажет)
Кілтсөздер
X-ray diffraction
X-ray phase analysis
X-ray photoelectron spectroscopy
atomic force microscopy
electron microscopy
ion implantation
irradiation
magnetron sputtering
microstructure
nanoparticles
neutron reflectometry
phase composition
scanning electron microscopy
silicon
structure
surface
surface morphology
synchrotron radiation
thin films
transmission electron microscopy
zinc oxide
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Ағымдағы шығарылым
№ 8 (2025)
© Ю.А. Новиков, 2023