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Journal of Surface Investigation: X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques
ISSN 1027-4510 (Print) ISSN 1819-7094 (Online)
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Palavras-chave Raman spectroscopy X-ray diffraction X-ray photoelectron spectroscopy atomic force microscopy atomic-force microscopy channeling ion implantation magnetron sputtering microhardness microstructure neutron diffraction scanning electron microscope scanning electron microscopy silicon simulation small-angle neutron scattering structure surface surface morphology synchrotron radiation thin films
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Informaçao sobre o Autor

Emtsev, V. V.

Edição Seção Título Arquivo
Volume 11, Nº 3 (2017) Article Effect of irradiation with 15-MeV protons on the compensation of Ge〈Sb〉 conductivity
Volume 13, Nº 6 (2019) Article Dependence of the Kinetics of Radiation-Induced Defect Formation on the Energy Absorbed by Si and SiC when Exposed to Fast Charged Particles
 

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