Analysis of Factors Affecting the Accuracy of Three-Dimensional Reconstruction of the Surface of Objects with Submicrometer Relief Obtained by Scanning Electron Microscope Stereo Images


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

We present analysis results of factors influencing the systematic error in 3-D reconstruction of surface reliefs based on stereo images obtained using the scanning electron microscope S-4800. The typical size for the surface relief elements is less than 1 μm. The main sources of the error are found. It is shown that for typical samples the main factor influencing the systematic error of 3-D reconstruction is the parallax measurement error.

Об авторах

A. Kuzin

All-Russia Research Institute of Metrological Service (VNIIMS)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow

A. Vasil’ev

National Research Center Kurchatov Institute; Institute of Crystallography, Russian Academy of Sciences

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow; Moscow

V. Mityukhlyaev

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow

A. Mikhutkin

National Research Center Kurchatov Institute

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow

P. Todua

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Автор, ответственный за переписку.
Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow; Dolgoprudny, Moscow Oblast

M. Filippov

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Россия, Moscow; Dolgoprudny, Moscow Oblast


© Springer Science+Business Media New York, 2016

Данный сайт использует cookie-файлы

Продолжая использовать наш сайт, вы даете согласие на обработку файлов cookie, которые обеспечивают правильную работу сайта.

О куки-файлах