Analysis of Factors Affecting the Accuracy of Three-Dimensional Reconstruction of the Surface of Objects with Submicrometer Relief Obtained by Scanning Electron Microscope Stereo Images


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

We present analysis results of factors influencing the systematic error in 3-D reconstruction of surface reliefs based on stereo images obtained using the scanning electron microscope S-4800. The typical size for the surface relief elements is less than 1 μm. The main sources of the error are found. It is shown that for typical samples the main factor influencing the systematic error of 3-D reconstruction is the parallax measurement error.

Авторлар туралы

A. Kuzin

All-Russia Research Institute of Metrological Service (VNIIMS)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Ресей, Moscow

A. Vasil’ev

National Research Center Kurchatov Institute; Institute of Crystallography, Russian Academy of Sciences

Email: fgupnicpv@mail.ru
Ресей, Moscow; Moscow

V. Mityukhlyaev

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Ресей, Moscow

A. Mikhutkin

National Research Center Kurchatov Institute

Email: fgupnicpv@mail.ru
Ресей, Moscow

P. Todua

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: fgupnicpv@mail.ru
Ресей, Moscow; Dolgoprudny, Moscow Oblast

M. Filippov

Research Center for the Study of the Properties of Surfaces and Vacuum (NITsPV); Moscow Institute of Physics and Technology (State University)

Email: fgupnicpv@mail.ru
Ресей, Moscow; Dolgoprudny, Moscow Oblast


© Springer Science+Business Media New York, 2016

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>