Spectral Analysis of the Method for Measuring Phase Shift from an Interferogram


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

We present the spectral analysis method of measuring phase shift from interferograms based on the differences between them. Limitations of the method are explained and ways of increasing its accuracy are clarified. We examine the effect of the phase shift value and additive noise on the measurement error.

Негізгі сөздер

Авторлар туралы

G. Vishnyakov

All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)

Email: minaev@vniiofi.ru
Ресей, Moscow

G. Levin

All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)

Email: minaev@vniiofi.ru
Ресей, Moscow

V. Minaev

All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: minaev@vniiofi.ru
Ресей, Moscow


© Springer Science+Business Media New York, 2016

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>