Мақаланы E-mail арқылы жіберу Spectral Analysis of the Method for Measuring Phase Shift from an Interferogram
- Авторлар: Vishnyakov G.N.1, Levin G.G.1, Minaev V.L.1
-
Мекемелер:
- All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)
- Шығарылым: Том 58, № 11 (2016)
- Беттер: 1228-1233
- Бөлім: Article
- URL: https://journals.rcsi.science/0543-1972/article/view/245560
- DOI: https://doi.org/10.1007/s11018-016-0875-7
- ID: 245560
Дәйексөз келтіру
Ашық рұқсат
Рұқсат берілді
Тек жазылушылар үшін
Аннотация
We present the spectral analysis method of measuring phase shift from interferograms based on the differences between them. Limitations of the method are explained and ways of increasing its accuracy are clarified. We examine the effect of the phase shift value and additive noise on the measurement error.
Негізгі сөздер
Авторлар туралы
G. Vishnyakov
All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)
Email: minaev@vniiofi.ru
Ресей, Moscow
G. Levin
All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)
Email: minaev@vniiofi.ru
Ресей, Moscow
V. Minaev
All-Russia Research Institute of Optophysical Measurements (VNIIOFI)
Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: minaev@vniiofi.ru
Ресей, Moscow
Қосымша файлдар
