Measurement Techniques
ISSN 0543-1972 (Print)
ISSN 1573-8906 (Online)
Мәзір
Мұрағат
Бастапқы
Журнал туралы
Редакция тобы
Редакция саясаты
Авторларға арналған ережелер
Журнал туралы
Шығарылымдар
Іздеу
Ағымдағы шығарылым
Ретракцияланған мақалалар
Мұрағат
Байланыс
Барлық журналдар
Анықтамалық материалдар
Платформаны пайдалану бойынша нұсқаулық
RAS журналдарына арналған келісімге қол қою бойынша нұсқаулық
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
Автор бойынша
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
accelerometer
calibration
comparator
concentration
diagnostics
frequency instability
laser
laser beam
laser radiation
magnetic field
mathematical model
metrological characteristics
nondestructive testing
photodetector
primary standard
sensitivity
sensor
spectrum
standard
uncertainty
verification
×
Пайдаланушы
Пайдаланушының аты
Құпиясөз
Мені есте сақтау
Құпия сөзді ұмыттыңыз ба?
Тіркеу
Хабарламалар
Қарау
Тіркелу
Іздеу
Іздеу
Іздеу аумағы
Барлығы
Авторлар
Атауы
Түйіндеме
Терминдер
Толық мәтін
Парақтау
шығарылымдар
Автор бойынша
атаулары бойынша
бөлімдер бойынша
басқа журналдар
Жазылу
Жазылымды тексеру үшін жүйеге кіріңіз
Кілтсөздер
accelerometer
calibration
comparator
concentration
diagnostics
frequency instability
laser
laser beam
laser radiation
magnetic field
mathematical model
metrological characteristics
nondestructive testing
photodetector
primary standard
sensitivity
sensor
spectrum
standard
uncertainty
verification
Бастапқы
>
Іздеу
>
Автор туралы ақпарат
Автор туралы ақпарат
Vishnyakov, G. N.
Шығарылым
Бөлім
Атауы
Файл
Том 58, № 11 (2016)
Article
Spectral Analysis of the Method for Measuring Phase Shift from an Interferogram
Том 58, № 11 (2016)
Article
Shearing Interference Microscope with Decoding of Differential Phase Patterns of Living Cells Using the Phase Stepping Method
Том 62, № 9 (2019)
Mechanical Measurements
A Device for Calibration of Electronic Speckle Pattern Interferometers
TOP