СПЕКЛ-ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ МИКРОПЕРЕМЕЩЕНИЙ И ДЕФОРМАЦИЙ: ОБЗОР МЕТОДОВ

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Рассмотрен класс методов спекл-интерферометрии, которые пригодны для измерения механических и температурных деформаций, дефектоскопии, контроля разрушений конструкций, виброиспытаний крупногабаритных объектов. Приведено историческое развитие метода спекл-интерферометрии от обработки изображений вручную до самых передовых методов, позволяющих определять сразу все три направления деформации. Предложены несколько видов классификаций спекл-интерферометров. Проанализировано применение метода в разных областях промышленности. Рассматриваются различные объекты, в том числе промышленные металлические изделия, органические материалы, композитные материалы и др. Приводятся примеры готовых решений на основе метода цифровой спекл-интерферометрии

Об авторах

Максим Сергеевич Кравченко

Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук

Email: max@tdisie.nsc.ru
Россия, 630058 Новосибирск, ул. Русская, 41

Петр Сергеевич Завьялов

Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук

Email: zavyalov@tdisie.nsc.ru
Россия, 630058 Новосибирск, ул. Русская, 41

Елена Сергеевна Жимулева

Конструкторско-технологический институт научного приборостроения Сибирского отделения Российской академии наук

Автор, ответственный за переписку.
Email: slena@tdisie.nsc.ru
Россия, 630058 Новосибирск, ул. Русская, 41

Список литературы

  1. Джонс С., Уайкс К. Голографическая и спекл-интерферометрия / Перевод с англ. А.А. Колоколова и др. М.: Мир, 1986.
  2. Гудмен Д. Статистическая оптика / Перевод с англ. А.А. Кокина и др. М.: Мир, 1988.
  3. Yang L., Xie X., Zhu L., Wu S. & Wang Y. Review of electronic speckle pattern interferometry (ESPI) for three dimensional displacement measurement // Chin. J. Mech. Eng. 2014. V. 27. No. 1. P. 1—13.
  4. Франсон М., Островский Ю.И. Оптика спеклов. М.: Мир, 1980. 171 с.
  5. Ульянов С.С. Что такое спеклы // Соросовский Образовательный журнал. 1999. Т. 7. № 5. С. 112—116.
  6. Рябухо В.П. Спекл-интерферометрия // Соросовский Образовательный журнал. 2001. Т. 7. № 5. С. 102—109.
  7. Mujeeb A., Nayar V.U., Ravindran V.R. Electronic Speckle Pattern Interferometry techniques for non-destructive evaluation: a review // Insight — Non-Destructive Testing and Condition Monitoring. 2006. V. 48. No. 5. P. 275—281.
  8. Jacquot P. Speckle Interferometry: A Review of the Principal Methods in Use for Experimental Mechanics Applications // Strain. 2008. V. 44. No. 1. P. 57—69.
  9. Labeyrie A. Attainment of diffraction limited resolution in large telescopes by Fourier analysing speckle patterns in star images // Astronomy and Astrophysics. 1970. V. 6. P. 85.
  10. Butters J.N., Leendertz J.A. A double exposure technique for speckle pattern interferometry // J. Phys. E: Sci. Instrum. 1971. V. 4. No. 4. P. 277—279.
  11. Leendertz J.A. Interferometric displacement measurement on scattering surfaces utilizing speckle effect // J. Phys. E: Sci. Instrum. 1970. V. 3. No. 3. P. 214—218.
  12. Butters J., Denby D., Doble P., Leendertz J.A. Coherent optics: a new tool in engineering measurement // Phys. Bull. 1971. V. 22. No. 7. P. 393—396.
  13. Groh G. Engineering uses of laser produced speckle patterns / Proc. Engineering uses of Holography. Cambridge University Press, 1970. P. 483—494.
  14. Burch J.M., Tokarski J.M.J. Production of multiple beam fringes from photographic scatterers // Optica Acta: International Journal of Optics. 1968. V. 15. No. 2. P. 101—111.
  15. Archbold E., Burch J.M., Ennos A.E. Recording of In-plane Surface Displacement by Double-exposure Speckle Photography // Optica Acta: International Journal of Optics. 1970. V. 17. No. 12. P. 883—898.
  16. Островский Ю.И., Бутусов М.М., Островская Г.В. Голографическая интерферометрия. М.: Наука, 1977. 339 с.
  17. Francon M. Laser speckle and applications in optics. New York: Academic Press, 1979.
  18. Roddier C., Roddier F. Interferogram analysis using Fourier transform techniques // Appl. Opt. 1987. V. 26. No. 9. P. 1668—1673.
  19. Creath K. Phase measurement interferometry techniques // Progress in optics. 1988. V. 26. P. 348—393.
  20. Liu J.B., Ronney P.D. Modified Fourier transform method for interferogram fringe pattern analysis // Applied optics. Optical Society of America. 1997. V. 36. No. 25. P. 6231—6241.
  21. Barducci A., Pippi I. Analysis and rejection of systematic disturbances in hyperspectral remotely sensed images of the Earth // Applied Optics. Optical Society of America. 2001. V. 40. No. 9. P. 1464—1477.
  22. Takeda M. Fourier fringe analysis and its application to metrology of extreme physical phenomena: a review // Applied optics. OSA. 2013. V. 52. No. 1. P. 20—29.
  23. Zhang Z., Zhong J. Spatial quasi-phase-shifting technique for single-frame dynamic fringe analysis // Optics Express. 2014. V. 22. No. 3. P. 2695—2705.
  24. Lokberg O.J. Use of chopped laser light in electronic speckle pattern interferometry // Appl. Opt. 1979. V. 18. No. 14. P. 2377.
  25. Lokberg O.J. Advances and Applications of Electronic Speckle Pattern Interferometry (ESPI) / Eds. Tamura P.N., Lee T.-C. Los Angeles, 1980. P. 92—97.
  26. Wykes C. De-correlation Effects in Speckle-pattern Interferometry. 1. Wavelength change dependent de-correlation with application to contouring and surface roughness measurement // Optica Acta: International Journal of Optics. 1977. V. 24. No. 5. P. 517—532.
  27. Butters J. N., Jones R., Wykes C. Electronic speckle pattern interferometry / Speckle Metrology. New York: Academic Press. 1978. P. 111—158.
  28. Erf R. Speckle Metrology. New York: Academic Press, 1978. 346 p.
  29. Nakadate S., Yatagai T., Saito H. Digital speckle-pattern shearing interferometry // Appl. Opt. 1980. V. 19. No. 24. P. 4241—4246.
  30. Yamaguchi I. Speckle Displacement and Decorrelation in the Diffraction and Image Fields for Small Object Deformation // Optica Acta: International Journal of Optics. 1981. V. 28. No. 10. P. 1359—1376.
  31. Vikram C.S., Vedam K. Direct observation of laser speckles for real-time analysis of lateral motions // Opt. Lett. 1981. V. 6. No. 11. P. 511—513.
  32. Вест Ч. Голографическая интерферометрия. М.: Мир, 1982. 504 с.
  33. Asundi A., Chiang F.P. Theory And Applications Of The White Light Speckle Method For Strain Analysis // Opt. Eng. 1982. V. 21. No. 4. P. 570—580.
  34. Murthy R.K., Sirohi R.S., Kothiyal M.P. Speckle shearing interferometry: a new method // Appl. Opt. 1982. V. 21. No. 16. P. 2865_1.
  35. Creath K. Phase-Shifting Speckle Interferometry // Applied Optics. / Eds. Arsenault H.H. 1985. V. 24. No. 18. P. 337.
  36. Yamaguchi I. Automatic measurement of in-plane translation by speckle correlation using a linear image sensor // J. Phys. E: Sci. Instrum. 1986. V. 19. No. 11. P. 944—948.
  37. Wykes C. A Theoretical Approach to the Optimization of Electronic Speckle Interferometry Fringes with Limited Laser Power // Journal of Modern Optics. 1987. V. 34. No. 4. P. 539—554.
  38. Jones R., Wykes C. Holographic and speckle pattern interferometry. Cambridge: University Press, 1988.
  39. Sirohi R.S., Ganesan A.R., Kothiyal M.P. Some New Techniques With Digital Speckle Pattern Interferometry (DSPI). Porto, Portugal: Optical Testing and Metrology II Proc. SPIE, 1988. V. 954. P. 218.
  40. Joenathan C., Narayanamurthy C.S., Sirohi R.S. Localization of fringes in speckle photography that are due to axial motion of the diffuse object // J. Opt. Soc. Am. A. 1988. V. 5. No. 7. P. 1035—1040.
  41. Ganesan A.R., Sharma D.K., Kothiyal M.P. Universal digital speckle shearing interferometer // Appl. Opt. 1988. V. 27. No. 22. P. 4731.
  42. Ganesan A.R. Measurement of Poisson’s ratio using real-time digital speckle pattern interferometry // Optics and Lasers in Engineering. 1989. V. 11. No. 4. P. 265—269.
  43. Funnell W.R.J. Image processing applied to the interactive analysis of interferometric fringes // Applied Optics. Optical Society of America, 1981. V. 20. No. 18. P. 3245—3250.
  44. Mastin G.A., Ghiglia D.C. Digital extraction of interference fringe contours // Applied optics. Optical Society of America. 1985. V. 24. No. 12. P. 1727—1728.
  45. Козачок А.Г. Голографические измерительные системы // Автометрия. 1992. № 6. С. 4.
  46. Сарнадский В.Н. Система цифрового анализа полей неоднородных деформаций на основе накладных голографических интерферометров // Автометрия. 1986. № 5. С. 46.
  47. Yatagai T., Nakadate S., Idesawa M. & Saito H. Automatic fringe analysis using digital image processing techniques // Optical Engineering. SPIE. 1982. V. 21. No. 3. P. 432—435.
  48. Huntley J.M., Benckert L. Speckle interferometry: noise reduction by correlation fringe averaging // Appl. Opt. 1992. V. 31. No. 14. P. 2412.
  49. Jia Z., Shah S.P. Two-dimensional electronic-speckle-pattern interferometry and concrete-fracture processes // Experimental Mechanics. 1994. V. 34. No. 3. P. 262—270.
  50. Hung Y.Y., Tang S., Hovanesian J.D. Real-time shearography for measuring time-dependent displacement derivatives // Experimental Mechanics. 1994. V. 34. No. 1. P. 89—92.
  51. Krishna Mohan N.K., Masalkar P.J., Sirohi R.S. Electronic speckle pattern interferometry with holo-optical element / Eds. Brown G.M., Harding K.G., Stahl H.P. Boston, MA, 1993. P. 234—242.
  52. Petrov V., Lau B. Electronic speckle pattern interferometry with a holographically generated reference wave // Opt. Eng. 1996. V. 35. No. 8. P. 2363.
  53. Lau B., Kuschnir P., Schmid U., Petrov V. & Tomasini E. P. Application of combined method of electronic speckle pattern interferometry and holography to vibration analysis / Eds. Tomasini E.P. Ancona, Italy, 1996. P. 346—351.
  54. Wong W.O., Chan K.T., Leung T.P. Identification of antinodes and zero-surface-strain contours of flexural vibration with time-averaged speckle pattern shearing interferometry // Appl. Opt. 1997. V. 36. No. 16. P. 3776.
  55. Sirohi R.S., Burke J., Helmers H. & Hinsch K.D. Spatial phase shifting for pure in-plane displacement and displacement-derivative measurements in electronic speckle pattern interferometry (ESPI) // Appl. Opt. 1997. V. 36. No. 23. P. 5787.
  56. Fernández A., Moore A.J., Pérez-López C., Doval A.F. & Blanco-García J. Study of transient deformations with pulsed TV holography: application to crack detection // Appl. Opt. 1997. V. 36. No. 10. P. 2058.
  57. Kaufmann G.H. Evaluation of a scale-space filter for speckle noise reduction in electronic speckle pattern interferometry // Opt. Eng. 1998. V. 37. No. 8. P. 2395.
  58. Zhang J., Chong T.C. Fiber electronic speckle pattern interferometry and its applications in residual stress measurements // Appl. Opt. 1998. V. 37. No. 28. P. 6707.
  59. Petrov V., Lau B. Electronic speckle pattern interferometry with thin beam illumination of miniature reflection and transmission speckling elements for in-plane deformation measurements // Opt. Eng. 1998. V. 37. No. 8. P. 2410.
  60. Yamaguchi I., Yamamoto A., Kuwamura S. Speckle decorrelation in surface profilometry by wavelength scanning interferometry // Appl. Opt. 1998. V. 37. No. 28. P. 6721.
  61. Verga A., Baglioni P., Dupont O., Dewandel J-L., Beuselinck T., Bouwen J., Cha S.S., Trolinger J.D. & Kawahashi M. Use of electronic speckle pattern interferometers for the analysis of convective states of liquids in weightlessness / Eds. Cha S.S., Trolinger J.D., Kawahashi M. San Diego, CA, 1997. P. 194—210.
  62. Ganesan A.R., Joenathan C., Sirohi R.S. Sharpening of fringes in digital speckle pattern interferometry // Appl. Opt. 1988. V. 27. No. 11. P. 2099—2100.
  63. Sirohi R.S., Mohan N.K. Speckle Interferometry for Deformation Measurement // Journal of Modern Optics. 1992. V. 39. No. 6. P. 1293—1300.
  64. Гужов В.И., Ильиных С.П. Компьютерная интерферометрия. Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2003. 311 с.
  65. Goodman J. W. Speckle Phenomena in Optics: Theory and Applications. Colorado: Ben Roberts, 2007.
  66. Горбатенко Б.Б., Лякин Д.В., Перепелицына О.А., Рябухо В.П. Оптические схемы и статистические характеристики сигнала спекл-интерферометров перемещений // Компьютерная Оптика. 2009. T. 33. № 3. С. 268—280.
  67. Yang L., Gao X. Electronic speckle pattern interferometry (ESPI) / Handbook of aser Technology and Applications. Laser Applications. Medical, Metrology and Communication. 2nd Edition. CRC Press, 2021. V. IV. P. 19.
  68. Slettemoen G.Å., Wyant J.C. Maximal fraction of acceptable measurements in phase-shifting speckle interferometry: a theoretical study // JOSA A. Optica Publishing Group. 1986. V. 3. No. 2. P. 210—214.
  69. Meng W., Bachilo S.M., Weisman R.B. & Nagarajaiah S. A Review: Non-Contact and Full-Field Strain Mapping Methods for Experimental Mechanics and Structural Health Monitoring // Sensors. 2024. V. 24. No. 20. P. 6573.
  70. Мелдал П., Викхаген Э. Способ и устройство для исследования поверхностных вибраций посредством перемещающегося спекл-интерферометра / Пат. RU2363019C2 USA. 2009.
  71. Еленевский Д.С., Шапошников Ю.Н. Лазерно-компьютерная система получения и анализа спекл-интерферограмм вибрирующих объектов // Известия Самарского научного центра РАН. 1999. Т. 1.
  72. Liu H., Lu G., Jones J., Komisarek D., Wu S., Harding K.G., Svetkoff D.J., Creath K. & Harris J.S. Speckle-induced phase error in laser-based phase-shifting projected-fringe profilometry // J. Opt. Soc. Am. / под ред. Harding K.G. и др. 1998. P. 1484—1495.
  73. Kadono H., Bitoh Y., Toyooka S. Statistical interferometry based on a fully developed speckle field: an experimental demonstration with noise analysis // J. Opt. Soc. Am. A. 2001. V. 18. No. 6. P. 1267—1274.
  74. Steinchen W., Yang L. Digital Shearography: Theory and Application of Digital Speckle Pattern Shearing Interferometry. Bellingham, WA: SPIE Press, 2003. 336 с.
  75. Жужукин А.И. Мобильный цифровой спекл — интерферометр для виброметрии деталей и узлов ГТД / Дис. ... канд. техн. наук. Самара: СГАУ, 2011.
  76. Hung Y.Y., Rowlands R.E., Daniel I.M. Speckle-Shearing Interferometric Technique: a Full-Field Strain Gauge // Appl. Opt. 1975. V. 14. No. 3. P. 618—622.
  77. Вишняков Г.Н., Иванов А.Д., Виноградов Ф.Ю. Сдвиговый спекл-интреферометр (варианты) / Пат. RU2726045C1 USA.
  78. Bruning J.H., Herriot D.R., Gallagher J.E., Rosenfeld D.P., White A.D. & Brangaccio D.J. Digital wavefront measuring interferometer for testing optical surfaces and lenses // Applied Optics. Optical Society of America, 1974. V. 13. No. 11. P. 2693—2703.
  79. Takeda M., Ina H., Kobayashi S. Fourier-transform method of fringe-pattern analysis for computer-based topography and interferometry // Journal of the Optical Society of America. Optical Society of America, 1982. V. 72. No. 1. P. 156—160.
  80. Kujawinska M., Wojiak J. Spatial phase-shifting techniques of fringe pattern analysis in photomechanics // Second International Conference on Photomechanics and Speckle Metrology. SPIE. 1991. V. 1554. P. 503.
  81. Pedrini G., Tiziani H.J. Double-pulse electronic speckle interferometry for vibration analysis // Applied optics. Optica Publishing Group. 1994. V. 33. No. 34. P. 7857—7863.
  82. Hung Y.Y. Shearography: a new optical method for strain measurement and nondestructive testing // Optical Engineering. SPIE. 1982. V. 21. No. 3. P. 391—395.
  83. Steinchen W., Kupfer G., Mackel P. & Vossing F. Determination of strain distribution by means of digital shearography // Measurement. 1999. V. 26. No. 2. P. 79—90.
  84. Steinchen W., Yang L.X., Kupfer G., Mackel P. & Vossing F. Strain analysis by means of digital shearography: Potential, limitations and demonstration // The Journal of Strain Analysis for Engineering Design. 1998. V. 33. No. 2. P. 171—182.
  85. Xie X., Chen X., Li J., Wang Y. & Yang L. Measurement of in-plane strain with dual beam spatial phase-shift digital shearography // Meas. Sci. Technol. V. 26. P. 115202.
  86. Anisimov A.G., Groves R.M. Extreme shearography: Development of a high-speed shearography instrument for quantitative surface strain measurements during an impact event // Optics and Lasers in Engineering. 2021. V. 140. P. 106502.
  87. Власов Н.Г., Штанько А.Е. Метод фазовых шагов. 1995.
  88. Robinson D.W., Williams D.C. Digital phase stepping speckle interferometry // Optics Communications. Elsevier. 1986. V. 57. No. 1. P. 26—30.
  89. Larkin K.G., Oreb B.F. New seven-sample symmetrical phase-shifting algorithm // Interferometry: Techniques and Analysis. SPIE. 1993. V. 1755. P. 2—11.
  90. Владимиров А. П., Малыгин А. С., Павлов Т. Н., Попов Д. О., Яковлева С. В. Динамическая спекл-интерферометрия биологических мембран / Сборник проектов 11-го международного семинара-ярмарки «Российские технологии для индустрии», 20-23 ноября 2007 г. [Текст]. Санкт-Петербург, 2007. C. 83.
  91. Вензель В.И., Милорадов А.Б. Инфракрасный интерферометр / Пат. RU182727U1 USA. 2018.
  92. Mujeeb A., Ravindran V. R., Nayar V. U. Speckle non destructive testing (SNDT) of low modulus materials / Proc. DAE-BRNS National Laser Symposium. 2002. P. 275—276.
  93. Mujeeb A., Ravindran V.R., Nayar V. U. Studies on TV holography for the nondestructive evaluation (NDE) of space vehicle components / Proc. Kerala Science Congress. 2002.
  94. Pedrini G., Pfister B., Tiziani H. Double Pulse-electronic Speckle Interferometry // Journal of Modern Optics. 1993. V. 40. No. 1. P. 89—96.
  95. Zavyalov P.S., Kravchenko M.S., Urzhumov V.V., Kuklin V.A. & Mikhalkin V.M. Investigation of the metrological characteristics of the PulsESPI system applied to the precision inspection of thermal deformations // Сибирский аэрокосмический журнал. 2019. Т. 20. № 2. С. 210—218.
  96. Shibayama K., Uchiyama H. Measurement of Three-Dimensional Displacements by Hologram Interferometry // Appl. Opt. 1971. V. 10. No. 9. P. 2150.
  97. Wang Y., Sun J., Li J., Gao X., Wu S. & Yang L. Synchronous measurement of three-dimensional deformations by multicamera digital speckle patterns interferometry // Optical Engineering. Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers. 2016. V. 55. No. 9. P. 091408.
  98. Вишняков Г.Н., Иванов А.Д., Виноградов Ф.Ю. Сдвиговый спекл-интерферометр с квадролинзой // Оптика и спектроскопия. Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук. 2020. V. 128. No. 10. P. 1577—1582.
  99. Arai Y. Three-dimensional shape measurement beyond the diffraction limit of lens using speckle interferometry // Journal of Modern Optics. 2018. V. 65. No. 16. P. 1866—1874.
  100. Аксёнов Е.А., Шматко А.А., Зворский В.И. и Кравчук А.С. Бесконтактный спекл-интерферометрический измеритель малых смещений // Радиоэлектронные и компьютерные системы. Национальный аэрокосмический университет имени Н.Е. Жуковского «Харьковский авиационный институт». 2008. № 1. С. 15—19.
  101. Stetson K.A. Vibratory strain field measurement by transverse digital holography // Applied Optics. Optica Publishing Group. 2015. V. 54. No. 27. P. 8207—8211.
  102. Tokovinin A., Mason B.D., Mendez R.A. & Costa E. Speckle Interferometry at SOAR in 2021 // The Astronomical Journal. IOP Publishing. 2022. V. 164. No. 2. P. 58.
  103. Genovese K., Lamberti L., Pappalettere C. A comprehensive ESPI based system for combined measurement of shape and deformation of electronic components // Optics and Lasers in Engineering. Elsevier. 2004. V. 42. No. 5. P. 543—562.
  104. Anisimov A.G., Serikova M.G., Groves R.M. 3D shape shearography technique for surface strain measurement of free-form objects // Appl. Opt. 2019. V. 58. No. 3. P. 498.
  105. Завьялов П.С., Kpавченко М.С., Уржумов В.В., Куклин В.А., Михалкин В.М. Исследование метрологических характеристик системы PulsESPI применительно к прецизионному контролю термодеформаций // Решетневские чтения. 2018. Т. 1. С. 107—109.
  106. Zavyalov P.S., Kravchenko M.S., Savinov K.I., Savchenko M.V., Beloborodov A.V. High Precision Measurements of Thermal Deformations of Spacecraft Reflectors // Instrum. Exp. Tech. 2023. V. 66. No. 1. P. 127—138.
  107. Lang H., Rampado M., Müllejans R. & Raab W.H.-M. Determination of the dynamics of restored teeth by 3D electronic speckle pattern interferometry // Lasers Surg Med. 2004. V. 34. No. 4. P. 300—309.
  108. Campos L.M.P., Parra D.F., Vasconcelos M.R., Vaz M. & Monteiro J. DH and ESPI laser interferometry applied to the restoration shrinkage assessment // Radiation Physics and Chemistry. Elsevier, 2014. V. 94. P. 190—193.
  109. Zhang H., Wu S., Li W., Wang Y., Dong M. & Yang L. Precise Detection of Wrist Pulse Using Digital Speckle Pattern Interferometry // Evidence-Based Complementary and Alternative Medicine / Eds. Da Silva Filho A.A. 2018. V. 2018. No. 1. P. 4187349.
  110. Daffara C., Mazzocato S., De Rubeis T. & Ambrosini D. A simple method for artworks monitoring by simultaneous speckle interferometry (ESPI) and speckle photography // Optics for Arts, Architecture, and Archaeology VIII. SPIE. 2021. V. 11784. P. 79—86.
  111. Pfeiffer E.K., Ihle A., Klebor M., Reichmann O., Linke S., Tschepe C., Nathrath N. & Grillenbeck A. Highly stable antenna structure technologies / Proceedings of 32nd ESA Antenna Workshop on Antennas for Space Applications, Noordwijk, The Netherlands. Citeseer, 2010.
  112. Ernst T., Linke S, Lori M., Fasold D., Haefker W., Nösekabel E.H. & Santiago-Prowald J. Highly stable Q/V band reflector demonstrator manufacturing and testing / Proc. of 29th ESA Antenna Workshop, ESTEC, Noordwijk, Netherlands. 2007.
  113. Gualini M.M.S., Iqbal S., Khan W.A. & Sixt W. ESPI and PulsESPI applied to ophthalmology using modified Twymann-Green interferometer // Journal of Applied Sciences. 2008. V. 8. No. 4. P. 677—681.
  114. Nösekabel E.H., Ernst T., Haefker W. Measurement of the thermal deformation of a highly stable antenna with pulse ESPI // Optical Measurement Systems for Industrial Inspection V. SPIE. 2007. V. 6616. P. 845—854.
  115. Van der Auweraer H., Steinbichler H., Haberstok C., Freymann R., Storer D. & Linet V. Industrial applications of pulsed-laser ESPI vibration analysis // IMAC-XIX: A Conference on Structural Dynamics. 2001. V. 1. P. 490—496.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
Скачать

© Российская академия наук, 2025

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».