Влияние сверхстехиометрических количеств натрия и фосфора на фазовый состав и ионную проводимость силикофосфатов циркония и натрия (NASICON)
- Авторы: Грищенко Д.Н.1, Подгорбунский А.Б.1, Медков М.А.1
-
Учреждения:
- Институт химии ДВО РАН
- Выпуск: Том 69, № 2 (2024)
- Страницы: 155-165
- Раздел: СИНТЕЗ И СВОЙСТВА НЕОРГАНИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ
- URL: https://journals.rcsi.science/0044-457X/article/view/260611
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0044457X24020025
- EDN: https://elibrary.ru/ZIIITN
- ID: 260611
Цитировать
Аннотация
Методом пиролиза растворов в расплаве исследовано фазообразование силикофосфатов натрия и циркония Na1+x Zr2SixP3–xO12 в зависимости от концентрации натрия и фосфора в прекурсорах. Изучено влияние содержания указанных компонентов, а также условий обжига на изменение ионной проводимости NASICON. Использованы методы рентгенофазового анализа, растровой электронной микроскопии, полнопрофильного анализа по Ритвельду, электрохимической импедансной спектроскопии. Рассчитаны удельные значения проводимости зерен (σb) и границ зерен (σgb) образцов. Установлено, что причиной изменения ионной проводимости является изменение состава NASICON при увеличении концентрации натрия и фосфора в прекурсоре. Главным условием высокой проводимости материала является образование кристаллической фазы, отвечающей составу Na3Zr2Si2РO12, а также минимальное количество примесей и стеклофазы. Проводимость образца NASICON (х = 2) при определенных условиях обработки составляет ~1 × 10–3 См/см.
Ключевые слова
Полный текст

Об авторах
Д. Н. Грищенко
Институт химии ДВО РАН
Автор, ответственный за переписку.
Email: grishchenko@ich.dvo.ru
Россия, пр-т 100-летия Владивостока, 159, Владивосток, 690022
А. Б. Подгорбунский
Институт химии ДВО РАН
Email: grishchenko@ich.dvo.ru
Россия, пр-т 100-летия Владивостока, 159, Владивосток, 690022
М. А. Медков
Институт химии ДВО РАН
Email: grishchenko@ich.dvo.ru
Россия, пр-т 100-летия Владивостока, 159, Владивосток, 690022
Список литературы
- Goodenough J.B., Hong H.Y-P., Kafalas J.A. // Mater. Res. Bull. 1976. V. 11. № 2. P. 203. https://doi.org/10.1016/0025-5408(76)90077-5
- Hong H.Y-P. // Mater. Res. Bull. 1976. V. 11. № 2. P. 173. https://doi.org/10.1016/0025-5408(76)90073-8
- Li C., Li R., Liu K. et al. // Interdiscip. Mater. 2022. P. 1. https://doi.org/10.1002/idm2.12044
- Guin M., Tietz F. // J. Power Sources. 2015. V. 273. P. 1056. https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2014.09.137
- Lalere F., Leriche J.B., Courty M. et al. // J. Power Sources. 2014. V. 247. P. 975. https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2013.09.051
- Fergus J.-W. // Solid State Ionics. 2012. V. 227. P. 102. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2012.09.019
- Narayanan S., Reid S., Butler S., Thangadurai V. // Solid State Ionics. 2019. V. 331. P. 22. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2018.12.003
- Rao Y.B., Bharathi K.К., Patro L.N. // Solid State Ionics. 2021. V. 366–377. P. 115671. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2021.115671
- Wang H., Zhao G., Wang S. et al. // Nanoscale. 2022. V. 14. № 3. P. 823. https://doi.org/10.1039/d1nr06959d
- Naqash S., Tietz F., Yazhenskikh E. et al. // Solid State Ionics. 2019. V. 336. P. 57. https://doi.org/10.1016/j.ssi.2019.03.017
- Грищенко Д.Н., Курявый В.Г., Подгорбунский А.Б., Медков М.А. // Журн. неорган. химии. 2023. Т. 68. № 1. С. 17. https://doi.org/10.31857/S0044457X22601043
- Fuentes R.O., Marques F.M.B., Franco J.I. // Bol. Soc. Esp. Cerám. Vidrio. 1999. V. 38. № 6. P. 631.
- Zhang S., Quan B., Zhiyong Z., Zhao B. // Materials Letters. 2004. V. 58. № 1. P. 226.
- Yang G., Zhai Y., Yao J. et al. // Chem. Commun. 2021. V. 57. P. 4023. https://doi.org/10.1039/d0cc07261c
- Brug G.J., van den Eeden A.L.G., Sluyters-Rehbach M., Sluyters J.H. // J. Electroanal. Chem. Interfacial Electrochem. 1984. V. 176. P. 275. https://doi.org/10.1016/S0022-0728(84)80324-1
- Bauerle J.E. // J. Phys. Chem. Solids. 1969. V. 30. P. 2657. https://doi.org/10.1016/0022-3697(69)90039-0
- Bauerle J.E., Hrizo J. // J. Phys. Chem. Solids. 1969. V. 30. P. 565. https://doi.org/10.1016/0022-3697(69)90011-0
- Kim S.K., Mao A., Sen S., Kim S. // Chem. Mater. 2014. V. 26. P. 5695. https://doi.org/10.1021/cm502542p
- Suzuki K., Noi K., Hayashi A., Tatsumisago M. // Scr. Mater. 2018. V. 145. P. 67. https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2017.10.010
- Ren K., Cao Y., Chen Y. et al. // Scripta Mater. 2020. V. 187. P. 384. https://doi.org/10.1016/j.scriptamat.2020.06.055
- Ngo Q.Q., Nguyen V.N., To V.N. et al. // Интеллектуальная электротехника. 2022. № 2. C. 16. https://doi.org/10.46960/2658-6754_2022_2_16
Дополнительные файлы
