THEORY OF SYSTEMS WITH SMALL BOUNDARY ROUGHNESS IN APPLICATION TO ELECTRON STATES IN QUANTUM CHANNELS, ELECTRO- AND HYDRODYNAMICS

Capa

Citar

Texto integral

Acesso aberto Acesso aberto
Acesso é fechado Acesso está concedido
Acesso é fechado Somente assinantes

Resumo

--

Sobre autores

L. Braginsky

Rahanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences; Novosibirsk State University

Autor responsável pela correspondência
Email: jetp@kapitza.ras.ru
Novosibirsk, Russia

M. Entin

Rahanov Institute of Semiconductor Physics, Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences

Email: jetp@kapitza.ras.ru
Novosibirsk, Russia

Bibliografia

  1. M. A. Lavrentiev and B. V. Shabat, Methods of Complex Function Theory, Nauka, Moscow (1987).
  2. A. V. Chaplik and M. V. Entin, Energy Spectrum and Electron Mobility in a Thin Film with Nonideal Boundary, JETP 55, 990 (1968.).
  3. R. E. Prange and T. W. Nee, Quantum Spectroscopy of the Low-Field Oscillations in the Surface Impedance, Phys. Rev. 168, 779 (1968).
  4. T. Ando, A. B. Fowler, and F. Stern, Electronic Properties of Two-Dimensional Systems, Rev. Mod. Phys. 54, 437 (1982).
  5. L. S. Braginskii and I. A. Gilinskii, Dokl. Akad. Nauk SSSR 293, 1097 (1987) [Sov. Phys. Dokl. 32, 297 (1987)].
  6. E. L. Feinberg, Propagation of Radionwaves along the Earth's Surface [in Russian], Izd. AN SSSR, Moscow (1961).
  7. P. I. Arseev, Perturbation Theory for the Green's Function of an Electromagnetic Field on a Rough Surface, Zh. Eksp. Teor. Fiz. 93, 464 (1987) [JETP 65, 262 (1987)].
  8. R. Z. Vitlina and A. M. Dykhne, Reflection of Electromagnetic Waves from a Surface with a Low Relief, Zh. Eksp. Teor. Fiz. 99, 1758 (1991) [JETP 72, 983 (1991)].
  9. G. V. Rozhnov, Zh. Eksp. Teor. Fiz. 94, 50 (1988) [Sov. Phys. JETP 67, 240 (1988)].
  10. Y. C. Huang, C. Williams, and H. Smith, Direct Comparison of Cross-Sectional Scanning Capacitance Microscope Dopant Profile and Vertical Secondary Ion-Mass Spectroscopy Profile, J. Vacuum Sci. Technol. B: Microelectronics and Nanometer Structures Processing, Measurement, and Phenomena 14, 433 (1996).
  11. R. C. Barrett and C. F. Quate, Charge Storage in a Nitride-Oxide-Silicon Medium by Scanning Capacitance Microscopy, J. Appl. Phys. 70 2725 (1991).
  12. N. C. Bruce, A. Garcia-Valenzuela, and D. Kouznetsov, Rough-Surface Capacitor: Approximations of the Capacitance with Elementary Functions, J. Phys. D: Appl. Phys. 32, 2692 (1999).
  13. D. R. Steinhauer, C. P. Vlahacos, S. K. Dutta, F. C. Wellstood, and S. M. Anlage, Surface Resistance Imaging with a Scanning Near-Field Microwave Microscope, Appl. Phys. Lett. 71, 1736 (1997).
  14. C. P. Vlahacos, R. C. Black, S. M. Anlage, A. Amar, and F. C. Wellstood, Nearfield Scanning Microwave Microscope with 100 μm Resolution, Appl. Phys. Lett. 69, 3272 (1996).
  15. Yu Luo, J. B. Pendry, and A. Aubry, Surface Plasmons and Singularities, Nano Lett. 10, 4186 (2010); Yu Luo, A. Aubry, and J. B. Pendry, Electromagnetic Contribution to Surface-Enhanced Raman Scattering from Rough Metal Surfaces: A Transformation Optics Approach, Phys. Rev. B 83, 155422 (2011).
  16. Zeev Nehari, Conformal Mapping, Dover Publications, New York (1982).
  17. https://en.wikipedia.org/wiki/Schwarz-Christoffelmapping

Arquivos suplementares

Arquivos suplementares
Ação
1. JATS XML
Baixar

Declaração de direitos autorais © Russian Academy of Sciences, 2025

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».