Отправить статью по E-mail 
Определение матричного состава стекол системы Ga–Ge–Te–I методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой - PDF (Русский)
© И.И. Евдокимов, А.Е. Курганова, А.П. Вельмужов, 2023
© И.И. Евдокимов, А.Е. Курганова, А.П. Вельмужов, 2023