Определение матричного состава стекол системы Ga–Ge–Te–I методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой

Обложка

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

Разработана методика высокоточного определения матричных элементов высокочистых стекол системы Ga–Ge–Te–I, содержащих от 5 до 15 ат. % Ga, от 10 до 20 ат. % Ge, от 69 до 75 ат. % Te и от 1 до 6 ат. % I, с использованием атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. Методика включает два независимых друг от друга этапа: определение отношения массовых долей Ga и Te к массовой доле Ge (этап 1) и определение массовой доли I (этап 2) в пробе стекла. На основе данных величин рассчитывают массовую и мольную доли каждого матричного элемента анализируемой пробы. Пробоподготовка включает кислотное растворение (обеспечивает количественный перевод Ga, Ge и Te в раствор) и щелочное вскрытие (обеспечивает количественный перевод I в раствор) проб. Правильность результатов анализа подтверждена сопоставлением результатов анализа модельных растворов и модельных образцов стекол с рассчитанным составом. Оцененная неопределенность результатов анализа составила 0.05–0.1 ат. % при P = 0.95.

Об авторах

И. И. Евдокимов

Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых Российской академии наук

Email: iliya@citydom.ru
Россия, 603951, Нижний Новгород, ул. Тропинина, 49, БОКС-75

А. Е. Курганова

Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых Российской академии наук

Email: iliya@citydom.ru
Россия, 603951, Нижний Новгород, ул. Тропинина, 49, БОКС-75

А. П. Вельмужов

Институт химии высокочистых веществ им. Г.Г. Девятых Российской академии наук

Автор, ответственный за переписку.
Email: iliya@citydom.ru
Россия, 603951, Нижний Новгород, ул. Тропинина, 49, БОКС-75

Список литературы

  1. Velmuzhov A.P., Sukhanov M.V., Plekhovich A.D., Zernova N.S., Churbanov M.F. Preparation and investigation of the properties of Ge25 – xGaxTe75 – yIy glass system (x = 5, 10, 15, y = 0–6) // J. Non-Cryst. Solids. 2019. V. 503–504. P. 297. https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2018.10.008
  2. Velmuzhov A.P., Sukhanov M.V., Plekhovich A.D., Shiryaev V.S., Churbanov M.F. Effect of iodine on the properties of [GeS1.5]100 – xIx (x = 0–10) glasses // J. Non-Cryst. Solids. 2018. V. 480. P. 8. https://doi.org/10.1016/j.jnoncrysol.2017.06.030
  3. Seddon A.B., Hemingway M.A. Thermal properties of chalcogenide-halide glasses in the system: Ge–S–I // J. Thermal Anal. 1991. V. 37. P. 2189. https://doi.org/10.1007/BF01905586
  4. Курганова А.Е., Снопатин Г.Е., Сучков А.И. Определение макросостава стекол систем As–S, As–Se, As–S–Se методом рентгенофлуоресцентного анализа // Неорг. материалы. 2009. Т. 45. № 12. С. 1506. (Kurganova A.E., Snopatin G.E., Suchkov A.I. X-ray fluorescence determination of the macroscopic composition of As–S, As–Se, and As–S–Se glasses // Inorg. Mater. 2009. V. 45. № 12. P. 1408.)https://doi.org/10.1134/S002016850912019X
  5. Бордовский Г.А., Марченко А.В., Серегин П.П., Бобохужаев К.У. Рентгенофлуоресцентный анализ стекол системы Ge–As–Se с возбуждением флуоресценции рентгеновским излучением и электронным пучком // Неорг. материалы. 2015. Т. 51. № 9. С. 1019. (Bordovsky G.A., Marchenko A.V., Seregin P.P., Bobokhuzhaev K.U. X-ray fluorescence analysis of Ge–As–Se glasses using X-ray and electron-beam excitation // Inorg. Mater. 2015. V. 51. № 9. P. 939. https://doi.org/10.1134/S002016851508006310.1134/S0020168515080063)https://doi.org/10.7868/S0002337X15080060
  6. Skripachev I.V., El-Amraoui M., Messaddeq Y. Study of the glass transition temperature of As–S glasses for the fabrication of chalcogenide optical fibers // Int. J. Appl. Glass Sci. 2013. V. 4 № 3. P. 256.https://doi.org/10.7868/S004445021804002310.1111/ijag.12020
  7. Евдокимов И.И., Пименов В.Г., Фадеева Д.А. Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As–Se и As–S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой // Журн. аналит. химии. 2018. Т. 73. № 4. С. 253. (Evdokimov I.I., Pimenov V.G., Fadeeva D.A. Possibilities of the determination of matrix elements of high-purity glasses of As–Se and As–S systems by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry // J. Anal. Chem. 2018. V. 73. P. 334. https://doi.org/10.1134/S106193481802004110.1134/S1061934818020041)https://doi.org/10.7868/S0044450218040023
  8. Velmuzhov A.P., Evdokimov I.I., Sukhanov M.V., Fadeeva D.A., Zernova N.S., Kurganova A.E. Distribution of elements in Ge–Se bulk glasses and optical fibers detected by inductively coupled plasma atomic emission spectrometry // J. Phys. Chem. Solids. 2020. V. 142. P. 109461. https://doi.org/10.1016/j.jpcs.2020.109461
  9. Фадеева Д.А., Евдокимов И.И., Пименов В.Г. Определение матричного состава халькогенидных стекол системы Ge–Se–Te методом АЭС-ИСП // Аналитика и контроль. 2020. Т. 24. № 4. С. 277. https://doi.org/10.15826/analitika.2020.24.4.002
  10. Евдокимов И.И., Фадеева Д.А., Курганова А.Е., Ширяев В.С., Пименов В.Г., Караксина Э.В. Определение матричных элементов и празеодима в стеклах системы Ga–Ge–As–Se методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой // Журн. аналит. химии. 2020. Т. 75. № 7. С. 606. (Evdokimov I.I., Fadeeva D.A., Kurganova A.E., Shiryaev V.S., Pimenov V.G., Karaksina E.V. Determination of matrix elements and praseodymium in Ga–Ge–As–Se glasses by inductively coupled plasma-atomic emission spectrometry // J. Anal. Chem. 2020. V. 75. № 7. P. 869. https://doi.org/10.1134/S106193482007006010.1134/S1061934820070060https://doi.org/10.31857/S0044450220070063
  11. Ксензенко В.И., Стасиневич Д.С. Химия и технология брома, йода и их соединений: Учебное пособие для вузов. М.: Химия, 1995. 432 с.
  12. Coplen T., Meyers F., Holden N. Clarifying atomic weights: A 2016 four-figure table of standard and conventional atomic weights // J. Chem. Educ. 2017. V. 94. № 3. P. 311. https://doi.org/10.1021/acs.jchemed.6b00510
  13. ГОСТ 34100.3-2017 /ISO/IEC Guide 98-3:2008. Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерения. М.: Стандартинформ, 2017. 112 с.
  14. Зайдель А.Н., Прокофьев В.К., Райский С.М., Славный В.А., Шрейдер Е.Я. Таблицы спектральных линий. М.: Наука, 1969. 788 с.
  15. Дворкин В.И. Метрология и обеспечение качества химического анализа. М.: Изд-во МИТХТ, 1994. 268 с.
  16. ГОСТ Р 50.4.006-2002. Межлабораторные сравнительные испытания при аккредитации и инспекционном контроле испытательных лабораторий. Методика и порядок проведения. М.: Изд-во стандартов, 2002. 19 с.

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML
2.

Скачать (135KB)

© И.И. Евдокимов, А.Е. Курганова, А.П. Вельмужов, 2023

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».