A Thin Layer Method for the LA-ICP-MS Analysis of Trace Element Concentrates - PDF (Russian)


Copyright (c) 2023 Н.С. Медведев, В.Д. Курбатова, А.И. Сапрыкин

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).