Effect of the Deformation Axis Orientation on the Strength of Dislocation Junctions in FCC Single Crystals


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The effect of the deformation axis orientation on the length and the strength of dislocation junctions in fcc single crystals has been studied within the model of interdislocation contact interactions, which includes the formation of a dislocation reaction and a change in a dislocation configuration under stress in three-dimensional space. The probabilities of failure of a dislocation junction under stress, the formation of indestructible dislocation junctions, and the formation of long strength dislocation barriers capable of limiting the shear zone have been determined.

Авторлар туралы

R. Kurinnaya

Tomsk State University of Architecture and Building

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634003

M. Zgolich

Tomsk State University of Architecture and Building

Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634003

V. Starenchenko

Tomsk State University of Architecture and Building

Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634003

M. Matveev

National Research Tomsk Polytechnic University

Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634050

I. Zgolich

Tomsk State University of Architecture and Building

Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634003

T. Shalygina

Tomsk State University of Architecture and Building

Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634003

G. Sadritdinova

Tomsk State University of Architecture and Building

Email: riklaz@mail.ru
Ресей, Tomsk, 634003


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>