THE STUDY OF GROWTH DEFECTS IN CUBIC SINGLE CRYSTALS OF SYNTHETIC DIAMOND USING X-RAY TOPO-TOMOGRAPHY

N. P. Anisimov; Анисимов Н. П.; D. A. Zolotov; Золотов Д. А.; A. V. Buzmakov; Бузмаков А. В.; I. G. Dyachkova; Дьячкова И. Г.; V. E. Asadchikov; Асадчиков В. Е.

doi:10.31857/S0023476123600192

Исследование ростовых дефектов в кубических монокристаллах синтетического алмаза методом рентгеновской топо-томографии

Авторы: Анисимов Н.П.¹^,2, Золотов Д.А.¹, Бузмаков А.В.¹, Дьячкова И.Г.¹, Асадчиков В.Е.¹
Учреждения:
1. Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН
2. Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Выпуск: Том 68, № 4 (2023)
Страницы: 507-513
Раздел: ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ
URL: https://journals.rcsi.science/0023-4761/article/view/137420
DOI: https://doi.org/10.31857/S0023476123600192
EDN: https://elibrary.ru/JPDLWB
ID: 137420

Цитировать

Полный текст

Открытый доступ
Доступ закрыт

Доступ предоставлен
Доступ закрыт

Только для подписчиков

Аннотация
Об авторах
Список литературы
Дополнительные файлы
Статистика

Аннотация

Представлены результаты исследования пространственного распределения линейных дефектов в монокристаллах синтетических алмазов кубооктаэдрического габитуса, выращенных в лабораторных условиях методом HPHT вблизи линии равновесия алмаз–графит. Впервые для исследования синтетических алмазов данного типа использовался метод рентгеновской топо-томографии, реализованный на лабораторном источнике рентгеновского излучения.

Ключевые слова

GROWTH DEFECTS, SYNTHETIC DIAMOND, X-RAY TOPO-TOMOGRAPHY

Список литературы

Kasu M. // Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 2016. V. 62. P. 317.
D’Haenens-Johansson U.F.S., Butler J.E., Katrusha A.N. // Rev. Mineral. Geochem. 2022. V. 88. P. 689.
Akashi N., Fujimaki N., Shikata S. // Diam. Relat. Mater. 2020. V. 109. P. 108024.
Боуэн Д.К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Пер. с англ. Шульпиной И.Л., Аргуновой Т.С. СПб.: Наука, 2002. 256 p.
Black D.R., Long G.G. X-ray topography. Gaithersburg: National Institute of Standards and Technology, 2004. 53 p.
Authier A. Dynamical theory of x-ray diffraction. 2-nd ed. Oxford University Press, 2004. 674 p.
Shikata S., Miyajima K., Akashi N. // Diam. Relat. Mater. 2021. V. 118. P. 108502.
Hornstra J. // J. Phys. Chem. Solids. 1958. V. 5. № 1–2. P. 129.
Ludwig W., Cloetens P., Härtwig J. et al. // J. Appl. Cryst. 2001. V. 34. № 5. P. 602.
Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Асадчиков В.Е. и др. // Кристаллография. 2011. Т. 56. № 3. С. 426.
Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Елфимов Д.А. и др. // Кристаллография. 2017. Т. 62. № 1. С. 12.
Золотов Д.А., Асадчиков В.Е., Бузмаков А.В. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2021. Т. 113. № 3. С. 161.
Lang A.R. // Acta Cryst. 1959. V. 2. P. 249.
Eaton-Magaña S., Shigley J.E., Breeding C.M. // Gems Gemol. 2017. V. 53. P. 262.
Andersen A.H., Kak A.C. // Ultrason. Imag. 1984. V. 6. P. 81.
Palenstijn W.J., Batenburg K.J., Sijbers J. // J. Struct. Biol. 2011. V. 176. P. 250.
Van Aarle W., Palenstijn W.J., De Beenhower J. et al. // Ultramicroscopy. 2015. V. 157. P. 35.
Gonzales R., Woods R. Digital image processing. 4-th ed. Pearson education India, 2009. 1168 p.
Sumiya H., Tamasaku K. // Jpn. J. Appl. Phys. 2012. V. 51. P. 090102.
Sumiya H., Toda N., Satoh S. // SEI Tech. Rev. 2005. V. 60. P. 10.
Moore M., Nailer S., Wierzchowski W. // Crystals. 2016. V. 6. P. 71.