THE STUDY OF GROWTH DEFECTS IN CUBIC SINGLE CRYSTALS OF SYNTHETIC DIAMOND USING X-RAY TOPO-TOMOGRAPHY

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The spatial distribution of linear defects in cuboctahedral single crystals of synthetic diamonds, grown under laboratory conditions by the high-pressure high-temperature (HPHT) method near the diamond–graphite equilibrium line, has been studied. Synthetic diamonds of this type have been studied for the first time by the X-ray topo-tomography using a laboratory X-ray source.

Авторлар туралы

N. Anisimov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia; Moscow State University, Moscow, 119234 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва; Россия, Москва

D. Zolotov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва

A. Buzmakov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва

I. Dyachkova

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва

V. Asadchikov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: asad@crys.ras.ru
Россия, Москва

Әдебиет тізімі

  1. Kasu M. // Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 2016. V. 62. P. 317.
  2. D’Haenens-Johansson U.F.S., Butler J.E., Katrusha A.N. // Rev. Mineral. Geochem. 2022. V. 88. P. 689.
  3. Akashi N., Fujimaki N., Shikata S. // Diam. Relat. Mater. 2020. V. 109. P. 108024.
  4. Боуэн Д.К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Пер. с англ. Шульпиной И.Л., Аргуновой Т.С. СПб.: Наука, 2002. 256 p.
  5. Black D.R., Long G.G. X-ray topography. Gaithersburg: National Institute of Standards and Technology, 2004. 53 p.
  6. Authier A. Dynamical theory of x-ray diffraction. 2-nd ed. Oxford University Press, 2004. 674 p.
  7. Shikata S., Miyajima K., Akashi N. // Diam. Relat. Mater. 2021. V. 118. P. 108502.
  8. Hornstra J. // J. Phys. Chem. Solids. 1958. V. 5. № 1–2. P. 129.
  9. Ludwig W., Cloetens P., Härtwig J. et al. // J. Appl. Cryst. 2001. V. 34. № 5. P. 602.
  10. Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Асадчиков В.Е. и др. // Кристаллография. 2011. Т. 56. № 3. С. 426.
  11. Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Елфимов Д.А. и др. // Кристаллография. 2017. Т. 62. № 1. С. 12.
  12. Золотов Д.А., Асадчиков В.Е., Бузмаков А.В. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2021. Т. 113. № 3. С. 161.
  13. Lang A.R. // Acta Cryst. 1959. V. 2. P. 249.
  14. Eaton-Magaña S., Shigley J.E., Breeding C.M. // Gems Gemol. 2017. V. 53. P. 262.
  15. Andersen A.H., Kak A.C. // Ultrason. Imag. 1984. V. 6. P. 81.
  16. Palenstijn W.J., Batenburg K.J., Sijbers J. // J. Struct. Biol. 2011. V. 176. P. 250.
  17. Van Aarle W., Palenstijn W.J., De Beenhower J. et al. // Ultramicroscopy. 2015. V. 157. P. 35.
  18. Gonzales R., Woods R. Digital image processing. 4-th ed. Pearson education India, 2009. 1168 p.
  19. Sumiya H., Tamasaku K. // Jpn. J. Appl. Phys. 2012. V. 51. P. 090102.
  20. Sumiya H., Toda N., Satoh S. // SEI Tech. Rev. 2005. V. 60. P. 10.
  21. Moore M., Nailer S., Wierzchowski W. // Crystals. 2016. V. 6. P. 71.

Қосымша файлдар


© Н.П. Анисимов, Д.А. Золотов, А.В. Бузмаков, И.Г. Дьячкова, В.Е. Асадчиков, 2023

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>