THE STUDY OF GROWTH DEFECTS IN CUBIC SINGLE CRYSTALS OF SYNTHETIC DIAMOND USING X-RAY TOPO-TOMOGRAPHY

Cover Page

Cite item

Full Text

Open Access Open Access
Restricted Access Access granted
Restricted Access Subscription Access

Abstract

The spatial distribution of linear defects in cuboctahedral single crystals of synthetic diamonds, grown under laboratory conditions by the high-pressure high-temperature (HPHT) method near the diamond–graphite equilibrium line, has been studied. Synthetic diamonds of this type have been studied for the first time by the X-ray topo-tomography using a laboratory X-ray source.

About the authors

N. P. Anisimov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia; Moscow State University, Moscow, 119234 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва; Россия, Москва

D. A. Zolotov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва

A. V. Buzmakov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва

I. G. Dyachkova

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Research Center “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Email: anisimov.np17@physics.msu.ru
Россия, Москва

V. E. Asadchikov

Shubnikov Institute of Crystallography, Federal Scientific Research Centre “Crystallography and Photonics,” Russian Academy of Sciences, Moscow, 119333 Russia

Author for correspondence.
Email: asad@crys.ras.ru
Россия, Москва

References

  1. Kasu M. // Prog. Cryst. Growth Charact. Mater. 2016. V. 62. P. 317.
  2. D’Haenens-Johansson U.F.S., Butler J.E., Katrusha A.N. // Rev. Mineral. Geochem. 2022. V. 88. P. 689.
  3. Akashi N., Fujimaki N., Shikata S. // Diam. Relat. Mater. 2020. V. 109. P. 108024.
  4. Боуэн Д.К., Таннер Б.К. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография / Пер. с англ. Шульпиной И.Л., Аргуновой Т.С. СПб.: Наука, 2002. 256 p.
  5. Black D.R., Long G.G. X-ray topography. Gaithersburg: National Institute of Standards and Technology, 2004. 53 p.
  6. Authier A. Dynamical theory of x-ray diffraction. 2-nd ed. Oxford University Press, 2004. 674 p.
  7. Shikata S., Miyajima K., Akashi N. // Diam. Relat. Mater. 2021. V. 118. P. 108502.
  8. Hornstra J. // J. Phys. Chem. Solids. 1958. V. 5. № 1–2. P. 129.
  9. Ludwig W., Cloetens P., Härtwig J. et al. // J. Appl. Cryst. 2001. V. 34. № 5. P. 602.
  10. Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Асадчиков В.Е. и др. // Кристаллография. 2011. Т. 56. № 3. С. 426.
  11. Золотов Д.А., Бузмаков А.В., Елфимов Д.А. и др. // Кристаллография. 2017. Т. 62. № 1. С. 12.
  12. Золотов Д.А., Асадчиков В.Е., Бузмаков А.В. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2021. Т. 113. № 3. С. 161.
  13. Lang A.R. // Acta Cryst. 1959. V. 2. P. 249.
  14. Eaton-Magaña S., Shigley J.E., Breeding C.M. // Gems Gemol. 2017. V. 53. P. 262.
  15. Andersen A.H., Kak A.C. // Ultrason. Imag. 1984. V. 6. P. 81.
  16. Palenstijn W.J., Batenburg K.J., Sijbers J. // J. Struct. Biol. 2011. V. 176. P. 250.
  17. Van Aarle W., Palenstijn W.J., De Beenhower J. et al. // Ultramicroscopy. 2015. V. 157. P. 35.
  18. Gonzales R., Woods R. Digital image processing. 4-th ed. Pearson education India, 2009. 1168 p.
  19. Sumiya H., Tamasaku K. // Jpn. J. Appl. Phys. 2012. V. 51. P. 090102.
  20. Sumiya H., Toda N., Satoh S. // SEI Tech. Rev. 2005. V. 60. P. 10.
  21. Moore M., Nailer S., Wierzchowski W. // Crystals. 2016. V. 6. P. 71.

Supplementary files

Supplementary Files
Action
1. JATS XML
Download
2.

Download (508KB)
Indexing metadata
3.

Download (194KB)
Indexing metadata
4.

Download (2MB)
Indexing metadata
5.

Download (2MB)
Indexing metadata
6.

Download (597KB)
Indexing metadata
7.

Download (513KB)
Indexing metadata

Copyright (c) 2023 Russian Academy of Sciences

Согласие на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика»

1. Я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных»), осуществляя использование сайта https://journals.rcsi.science/ (далее – «Сайт»), подтверждая свою полную дееспособность даю согласие на обработку персональных данных с использованием средств автоматизации Оператору - федеральному государственному бюджетному учреждению «Российский центр научной информации» (РЦНИ), далее – «Оператор», расположенному по адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А, со следующими условиями.

2. Категории обрабатываемых данных: файлы «cookies» (куки-файлы). Файлы «cookie» – это небольшой текстовый файл, который веб-сервер может хранить в браузере Пользователя. Данные файлы веб-сервер загружает на устройство Пользователя при посещении им Сайта. При каждом следующем посещении Пользователем Сайта «cookie» файлы отправляются на Сайт Оператора. Данные файлы позволяют Сайту распознавать устройство Пользователя. Содержимое такого файла может как относиться, так и не относиться к персональным данным, в зависимости от того, содержит ли такой файл персональные данные или содержит обезличенные технические данные.

3. Цель обработки персональных данных: анализ пользовательской активности с помощью сервиса «Яндекс.Метрика».

4. Категории субъектов персональных данных: все Пользователи Сайта, которые дали согласие на обработку файлов «cookie».

5. Способы обработки: сбор, запись, систематизация, накопление, хранение, уточнение (обновление, изменение), извлечение, использование, передача (доступ, предоставление), блокирование, удаление, уничтожение персональных данных.

6. Срок обработки и хранения: до получения от Субъекта персональных данных требования о прекращении обработки/отзыва согласия.

7. Способ отзыва: заявление об отзыве в письменном виде путём его направления на адрес электронной почты Оператора: info@rcsi.science или путем письменного обращения по юридическому адресу: 119991, г. Москва, Ленинский просп., д.32А

8. Субъект персональных данных вправе запретить своему оборудованию прием этих данных или ограничить прием этих данных. При отказе от получения таких данных или при ограничении приема данных некоторые функции Сайта могут работать некорректно. Субъект персональных данных обязуется сам настроить свое оборудование таким способом, чтобы оно обеспечивало адекватный его желаниям режим работы и уровень защиты данных файлов «cookie», Оператор не предоставляет технологических и правовых консультаций на темы подобного характера.

9. Порядок уничтожения персональных данных при достижении цели их обработки или при наступлении иных законных оснований определяется Оператором в соответствии с законодательством Российской Федерации.

10. Я согласен/согласна квалифицировать в качестве своей простой электронной подписи под настоящим Согласием и под Политикой обработки персональных данных выполнение мною следующего действия на сайте: https://journals.rcsi.science/ нажатие мною на интерфейсе с текстом: «Сайт использует сервис «Яндекс.Метрика» (который использует файлы «cookie») на элемент с текстом «Принять и продолжить».