Отправить статью по E-mail Интерференционная холоэллипсометрия «in situ» прозрачного двумерного одноосного кристалла при нормальном отражении лазерного излучения
- Авторы: Али М.1, Качурин Ю.Ю.1, Кирьянов А.П.2, Рыжова Т.А.3, Шапкарин И.П.4
-
Учреждения:
- Национальный исследовательский университет МГТУ им.Н.Э.Баумана
- Научно-технологический центр уникального приборостроения РАН
- Российский университет дружбы народов
- Московский государственный университет дизайна и технологий
- Выпуск: № 1 (2012)
- Страницы: 77-84
- Раздел: Статьи
- URL: https://journals.rcsi.science/2658-4670/article/view/328714
- ID: 328714
Цитировать
Аннотация
Об авторах
Мухаммед Али
Национальный исследовательский университет МГТУ им.Н.Э.Баумана
Email: MochmedAli2206@jmail.com
Национальный исследовательский университет МГТУ им.Н.Э.Баумана
Юрий Юрьевич Качурин
Национальный исследовательский университет МГТУ им.Н.Э.Баумана
Email: caich@mail.ru
Национальный исследовательский университет МГТУ им.Н.Э.Баумана
Анатолий Павлович Кирьянов
Научно-технологический центр уникального приборостроения РАННаучно-технологический центр уникального приборостроения РАН
Татьяна Александровна Рыжова
Российский университет дружбы народовРоссийский университет дружбы народов
Игорь Петрович Шапкарин
Московский государственный университет дизайна и технологийМосковский государственный университет дизайна и технологий
Дополнительные файлы
