Metrology, Standartization, and Control
| Edição | Título | Arquivo | |
| Volume 14, Nº 3-4 (2019) | INVESTIGATION OF GALLIUM NITRIDE ISLAND FILMS ON SAPPHIRE SUBSTRATES VIA SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND SPECTRAL ELLIPSOMETRY |
 (Eng) |
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| Dedkova A., Nikiforov M., Mitko S., Kireev V. | |||
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