Evolution of the field of distributed defects in a crystal during contact interaction with a system of rigid stamps - PDF (Russo)


Declaração de direitos autorais © Lycheva T.N., Lychev S.A., 2022

Creative Commons License
Este artigo é disponível sob a Licença Creative Commons Atribuição 4.0 Internacional.

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).