ОСОБЕННОСТИ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ СТАНДАРТОВ В ЗАДАЧАХ ТЕСТИРОВАНИЯ

Рассматриваются актуальные проблемы диагностирования цифровых устройств на всех этапах проектирования, включая выбор общей структуры проекта, функциональную верификацию, программирование кристалла, формирование конфигурации, временную проверку отдельных блоков проекта и аппаратное тестирование. Проведены исследования в части развития стандартов периферийного сканирования и их приложений для различных проектов за последнее время. Представлены различные современные стандарты в маршруте автоматического проектирования, цифровой стандарт периферийного сканирования для тестирования многослойных печатных плат, стандарт для сокращения затрат на тестирование СБИС с дальнейшей возможностью повторного использования для других задач и инструменты для периферийного сканирования, позволяющие производить структурное тестирование и тестопригодное проектирование. Рассмотрены стандарты, обеспечивающие внутрисхемное конфигурирование интегральных микросхем, и их связь с устранением неисправностей прототипов и тестированием качества монтажа, сборки узлов и систем. Отдельно рассмотрен стандарт, определяющий классы встроенных инструментов тестирования с оболочками и механизмами управления, совместимыми с предыдущими стандартами. На основе анализа существующих решений в маршруте проектирования цифровых устройств разного назначения разработано решение проблемы диагностирования с учетом специфики применяемой элементной базы. Разработанный маршрут проектирования цифровых устройств на современных программируемых интегральных схемах с использованием последних разработок стандартов периферийного сканирования позволит проводить тестирование разработки на базе микросхем различных производителей. Предложенный метод диагностирования на основе разработанных стандартов может использоваться и при разработке различных проектов на базе отечественной элементной базы, что является своевременным для решения важной проблемы импортозамещения.

тестирование, печатные платы, программируемые логические интегральные схемы, диагностика, электронные модули, периферийное сканирование