Single fault detection test sets with respect to stuck-at faults at the outputs of gates in formulas over one basis of Zhegalkin type

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

The article establishes the exact values of the Shannon function of the cardinality of a single fault detection test set with respect to stuck-at faults at outputs of gates in formulas over the basis \( \{\, x \& y,\; x \oplus y,\; x \sim y \,\}\ \)

.

Авторлар туралы

Zhenyu Cui

Lomonosov Moscow State University

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: ourobros1234@gmail.com

Dmitrii Romanov

Email: romanov@cs.msu.ru
Doctor of physico-mathematical sciences, Associate professor

Әдебиет тізімі

  1. S. M. Reddy, “Easily testable realization for logic functions”, IEEE Trans. Comput., C-21:11 (1972), 1183–1188
  2. K. L. Kodandapani, “A note on easily testable realizations for logic functions”, IEEE Trans. Comput., C-23:3 (1974), 332–333

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Cui Z., Romanov D.S., 2025

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).