Поиск

Выпуск
Название
Авторы
Current-Voltage Characteristics of nBn Structures Based on Mercury Cadmium Telluride Epitaxial Films
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S., Dvoretsky S., Mikhailov N., Sidorov G.
Admittance of MIS-Structures Based on HgCdTe with a Double-Layer CdTe/Al2O3 Insulator
Dzyadukh S., Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Sidorov G., Varavin V., Vasil’ev V., Dvoretsky S., Mikhailov N., Yakushev M.
Electron Concentration in the Near-Surface Graded-Gap Layer of MBE n-Hg1–xCdxTe (x = 0.22–0.40) Determined from the Capacitance Measurements of MIS-Structures
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S., Grigor’ev D., Lyapunov D.
Temperature and Field Dependences of Parameters of the Equivalent Circuit Elements of MIS Structures Based on MBE n-Hg0.775Cd0.225Te in the Strong Inversion Mode
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S.
Electrical and Optical Studies of Defect Structure of HgCdTe Films Grown by Molecular Beam Epitaxy
Świątek Z., Ozga P., Izhnin I., Fitsych E., Voitsekhovskii A., Korotaev A., Mynbaev K., Varavin V., Dvoretsky S., Mikhailov N., Yakushev M., Bonchyk A., Savytsky H.
Peculiarities of Determining the Dopant Concentration in the Near-Surface Layer of a Semiconductor by Measuring the Admittance of MIS Structures Based on P-Hg0.78Cd0.22Te Grown by Molecular Beam Epitaxy
Voitsekhovskii A., Nesmelov S., Dzyadukh S.
1 - 6 из 6 результатов
Подсказки:
  • Ключевые слова чувствительны к регистру
  • Английские предлоги и союзы игнорируются
  • По умолчанию поиск проводится по всем ключевым словам (агенс AND экспериенцер)
  • Используйте OR для поиска того или иного термина, напр. образование OR обучение
  • Используйте скобки для создания сложных фраз, напр. архив ((журналов OR конференций) NOT диссертаций)
  • Для поиска точной фразы используйте кавычки, напр. "научные исследования"
  • Исключайте слово при помощи знака - (дефис) или оператора NOT; напр. конкурс -красоты или же конкурс NOT красоты
  • Используйте * в качестве версификатора, напр. научн* охватит слова "научный", "научные" и т.д.

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).