BaTiO3/LaSrMnO3 Heterostructure Grown on Sapphire for Ferroelectric Tunneling Junctions


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

BaTiO3/LaSrMnO3 (BTO/LSMO) structures with a ferroelectric layer thickness of 10 nm have been formed on r-cut sapphire substrate by means of high-frequency magnetron sputtering. Investigations of the sample structure showed the presence of a crystalline phase, while measurements of electrical properties revealed piezoelectric response of the BTO films. The study of local current–voltage characteristics showed dependence of the sample resistance on the prehistory of voltage application as determined by ferroelectric hysteresis of the BTO layer.

Об авторах

A. Gagarin

St. Petersburg Electrotechnical University LETI

Автор, ответственный за переписку.
Email: AGGagarin@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376

A. Tumarkin

St. Petersburg Electrotechnical University LETI

Email: AGGagarin@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376

E. Sapego

St. Petersburg Electrotechnical University LETI

Email: AGGagarin@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 197376

T. Kunkel’

Peter the Great St. Petersburg Polytechnic University; Ioffe Physical Technical Institute, Russian Academy of Sciences

Email: AGGagarin@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 195251; St. Petersburg, 194021

V. Stozharov

The Herzen State Pedagogical University of Russia

Email: AGGagarin@gmail.com
Россия, St. Petersburg, 191186

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2019

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).