Light-induced resistive switching in silicon-based metal–insulator–semiconductor structures


Цитировать

Полный текст

Открытый доступ Открытый доступ
Доступ закрыт Доступ предоставлен
Доступ закрыт Только для подписчиков

Аннотация

We have studied light-induced resistive switching in metal–insulator–semiconductor structures based on silicon covered with a tunneling-thin SiO2 layer and nanometer-thick layer of antimony. The role of an insulator was played by yttria-stabilized zirconia.

Об авторах

S. Tikhov

Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod

Email: mahavenok@mail.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 603950

O. Gorshkov

Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod; Physical Technical Research Institute

Email: mahavenok@mail.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 603950; Nizhny Novgorod, 603950

M. Koryazhkina

Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod

Автор, ответственный за переписку.
Email: mahavenok@mail.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 603950

I. Antonov

Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod; Physical Technical Research Institute

Email: mahavenok@mail.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 603950; Nizhny Novgorod, 603950

A. Kasatkin

Lobachevsky State University of Nizhny Novgorod

Email: mahavenok@mail.ru
Россия, Nizhny Novgorod, 603950

Дополнительные файлы

Доп. файлы
Действие
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016

Согласие на обработку персональных данных

 

Используя сайт https://journals.rcsi.science, я (далее – «Пользователь» или «Субъект персональных данных») даю согласие на обработку персональных данных на этом сайте (текст Согласия) и на обработку персональных данных с помощью сервиса «Яндекс.Метрика» (текст Согласия).