An Antireflection Coating of a Germanium Subcell in GaInP/GaAs/Ge Solar Cells


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Spectral characteristics of the Ge subcell of triple-junction GaInP/GaAs/Ge solar cells have been simulated. It was shown that using a GaInP nucleation layer that creates a shallow diffusion pn junction in Ge can raise the photogeneration current of the Ge subcell by ~4.5 mA/cm2 as compared with the value in the case of a GaAs nucleation layer. The optimal thickness of the GaInP layer (170–180 nm) makes it possible to additionally raise the photocurrent by ~1.5 mA/cm2. It was experimentally demonstrated that the photogenerated current of the Ge subcell of GaInP/GaAs/Ge solar cells increases by 3.9 mA/cm2 on replacing the GaAs nucleation layer with GaInP and there is an additional gain by 0.9 mA/cm2 on using the optimal thickness of the GaInP nucleation layer.

Авторлар туралы

S. Mintairov

Ioffe Physical Technical Institute

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: mintairov@scell.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg

V. Emel’yanov

Ioffe Physical Technical Institute

Email: mintairov@scell.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg

N. Kalyuzhnyi

Ioffe Physical Technical Institute

Email: mintairov@scell.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg

V. Andreev

Ioffe Physical Technical Institute

Email: mintairov@scell.ioffe.ru
Ресей, St. Petersburg


© Pleiades Publishing, Ltd., 2018

Осы сайт cookie-файлдарды пайдаланады

Біздің сайтты пайдалануды жалғастыра отырып, сіз сайттың дұрыс жұмыс істеуін қамтамасыз ететін cookie файлдарын өңдеуге келісім бересіз.< / br>< / br>cookie файлдары туралы< / a>