An electron-impact ionization study of molecular selenium beams


Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

We describe the method and presents results of a mass-spectrometric investigation of the yield of positive ions formed as a result of the dissociative ionization of a molecular selenium beam by electron impact. Appearance energies of fragment ions have been determined from the ionization efficiency curves. The dynamics of formation of the molecular ions of selenium in a temperature interval of 420–495 K has been studied. The energy dependences of the efficiency of formation of singly charged Sen+ (n = 1–3) and doubly charged Se++ ions are analyzed.

Авторлар туралы

A. Zavilopulo

Institute of Electron Physics

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

O. Shpenik

Institute of Electron Physics

Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

M. Mykyta

Institute of Electron Physics

Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

A. Mylymko

Institute of Electron Physics

Email: gzavil@gmail.com
Украина, Uzhgorod, 88017

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML

© Pleiades Publishing, Ltd., 2016